[发明专利]电路检测方法及系统

权利要求书

1.一种电路检测方法，其特征在于，所述的电路检测方法是以通过测试一模拟电路的方式判断依照所述模拟电路制成的一电路板是否异常，所述电路检测方法包括以下步骤：

依据所述模拟电路显示一测试画面，所述测试画面包括多个第一图像及多个第二图像，其中各所述第一图像分别代表所述模拟电路中的各导通点，而各所述第二图像分别代表所述模拟电路中的各非导通点；

放大所述多个第二图像至一预定宽度；

检视是否有一封闭区域被隔离形成，其中所述封闭区域是由放大后的所述多个第二图像中的其中一部分围绕而隔离形成；以及

若否，则判断所述电路板为正常；若是，则判断所述电路板上对应所述封闭区域内的一区域为一疑似异常区域。

2.如权利要求1所述的电路检测方法，其特征在于，所述的电路检测方法更包括以下步骤：

计算形成所述封闭区域的各所述第二图像放大前两两相互间隔的多个通道的各间距值，并将各间距值相加以取得一间距总和值，藉以根据所述间距总和值判定一预估电流值。

3.如权利要求2所述的电路检测方法，其特征在于，放大所述多个第二图像至所述预定宽度是以分别放大数次的方式逐渐放大达成，而计算各间距值的步骤包括以下步骤：

于每次放大所述多个第二图像后，检视所述多个第二图像两两相互间隔的所述多个通道的数量是否减少；

若否，则判断所述多个第二图像是否已放大至所述预定宽度，其中若已放大至所述预定宽度时，检视是否有所述封闭区域被隔离形成；若尚未放大至所述预设宽度时，则再一次放大所述多个第二图像；

若是，则确认所述多个通道中的其中一通道消失时的一定点坐标位置，并根据所述定点坐标位置判断位于所述定点坐标位置上的两第二图像的中心坐标位置；

计算位于所述定点坐标位置上的两第二图像放大前的相互间隔的所述通道的一间距值；

记录位于所述定点坐标位置上的两第二图像的中心坐标位置及所述间距值；以及

判断所述多个第二图像是否已放大至所述预定宽度，其中若已放大至所述预定宽度时，检视是否有所述封闭区域被隔离形成；若尚未放大至所述预定宽度时，则再一次放大所述多个第二图像。

4.如权利要求2所述的电路检测方法，其特征在于，所述的电路检测方法更包括以下步骤：

依据被包围在所述封闭区域内的至少一第一图像所代表的至少一导通点所需的至少一需求电流值，以计算需通过所述封闭区域内的一需求总电流值；以及

根据所述预估电流值及所述需求总电流值，判断所述电路板上对应所述封闭区域内的所述区域是否异常；其中，若所述预估电流值大于或等于所述需求总电流值时，则判断所述区域为正常，若所述预估电流值小于所述需求总电流值时，则判断所述区域为异常。

5.一种电路检测系统，其特征在于，所述的电路检测系统用以测试一模拟电路，以判断依照所述模拟电路制成的一电路板是否异常，所述电路检测系统包括：

一显示模块，用以依据所述模拟电路显示一测试画面，所述测试画面包括多个第一图像及多个第二图像，其中各所述第一图像分别代表所述模拟电路中的各导通点，而各所述第二图像分别代表所述模拟电路中的各非导通点；

一放大模块，用以放大所述多个第二图像至一预定宽度；

一检视模块，用以检视是否有一封闭区域被隔离形成，其中所述封闭区域是由放大后的所述多个第二图像中的其中一部分围绕而隔离形成；

一判断模块，用以根据所述封闭区域的有无，以判断所述电路板是否疑似异常，其中若无所述封闭区域形成，则判断所述电路板为正常，而若有所述封闭区域形成，则判断所述电路板上对应所述封闭区域内的一区域为一疑似异常区域。

6.如权利要求5所述的电路检测系统，其特征在于，所述的电路检测系统更包括一运算模块，其用以计算形成所述封闭区域的各所述第二图像放大前两两相互间隔的多个通道的各间距值，并将各间距值相加以取得一间距总和值，藉以根据所述间距总和值判定一预估电流值。