[发明专利]一种芯片测试模式的进入方法及相关装置有效
| 申请号： | 201210041270.8 | 申请日： | 2012-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN102592683A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 江猛;严秀萍;韩红娟;杨卫 | 申请（专利权）人： | 苏州华芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215011 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种进入芯片测试模式的方法与相关装置。芯片的成品测试和中测测试都需要在ROM中写入测试程式，为了不影响用户码的ROM区域，因此在芯片内部增加了专用测试ROM区域，测试专用ROM区域中存放测试芯片的相关测试程式。为了防止客户错误进入测试ROM区域，本发明在芯片内建芯片进入测试模式的相关电路，芯片测试时特定的时序经由芯片内建的进入测试模式的电路，芯片才能成功进入测试模式，在芯片复位完成后使能测试ROM，以便芯片执行测试ROM中的值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 模式 进入 方法 相关 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片，其特征在于其内建一芯片进入测试ROM的电路，其测试电路包含有：‑主电路，用于接收和传递信号；‑输入电路，其具有三个输入端口，该输入电路接收输入信号并加以处理后，由主电路接收；‑输出电路，用来提供一输出信号，该输出信号接收由主电路传递过来的信号并加以处理。
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