[发明专利]一种芯片测试模式的进入方法及相关装置

权利要求书

1.一种芯片，其特征在于其内建一芯片进入测试ROM的电路，其测试电路包含有：

-主电路，用于接收和传递信号；

-输入电路，其具有三个输入端口，该输入电路接收输入信号并加以处理后，由主电路接收；

-输出电路，用来提供一输出信号，该输出信号接收由主电路传递过来的信号并加以处理。

2.如权利要求1所述的芯片，其特征在于所述内建的芯片可运作于测试ROM模式与普通ROM模式。

3.如权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述主电路由触发器(50)、触发器(51)、触发器(52)、触发器(53)组成，

所述触发器(50)的Q端与触发器(51)的D端相接，触发器(51)的Q端与触发器(52)的D端相接，触发器(52)的Q端与触发器(53)的D端相接，所述触发器(50)的D端由输入电路的一端口(SDA)提供；

所述触发器(50)、触发器(51)、触发器(52)、触发器(53)的CLK端与所述输入电路中的两输入与门(22)的输出端相接；

所述触发器(50)、触发器(51)、触发器(52)、触发器(53)的使能端与所述输入电路中的两输入或非门(30)的输出端相接；

所述触发器(50)的Q端、触发器(51)的Q_端、触发器(52)的Q_端、触发器(53)的Q端和触发器(50)的Q端、触发器(51)的Q端、触发器(52)的Q_端、触发器(53)的Q端各自分别接入所述输出电路。

4.如权利要求3所述的芯片，其特征在于，所述输入电路的三个输入端为输入端(SCK)、输入端(SDA)、输入端(MODEL_SEL)，

输入端(SCK)经由正向输出的施密特触发器(10)接入两输入与门(22)的输入端，两输入与门(22)的另一输入端和非门(40)的输出端相接，非门(40)的输入端和两输入与非门(20)的其中一输入端及两输入与非门(21)的输出端相接，输入端(SCK)经由正向输出的施密特触发器(10)与两输入与非门(20)的另一输入端相接；

输入端(SDA)经由正向输出的施密特触发器(12)与所述主电路的触发器(50)的D端相接；

输入端(MODEL_SEL)经由反向输出的施密特触发器(11)与芯片管脚(POR_)接入两输入或非门30的输入端，两输入或非门(30)输出信号与所述主电路触发器(50)、触发器(51)、触发器(52)、触发器(53)的芯片使能端相接，输入端(MODEL_SEL)经由反向输出的施密特触发器(11)和与非门(21)的一输入端相接，两输入与非门(21)的另一输入端与两输入与非门(20)的输出端相接。

5.如权利要求4所述的芯片，其特征在于所述输入电路的输入端(MODEL_SEL)和芯片的管脚(RESET)共用，输入端(SDA)和芯片外部的晶振的管脚(OSC1)共用，输入端(SCK)和芯片外部的晶振的管脚(OSC2)共用。

6.如权利要求4、5任一所述的芯片，所述输出电路接收由主电路传输过来的信号，其特征在于，

所述输出电路中的与非门(23)的四个输入端各自分别与所述主电路中的触发器(50)的Q端、触发器(51)的Q_端、触发器(52)的Q_端、触发器(53)的Q端相接，所述输出电路中的与非门(24)的四个输入端各自分别与所述主电路中的触发器(50)的Q端、触发器(51)的Q端、触发器(52)的Q_端、触发器(53)的Q端相接；

所述输出电路中的与非门(23)和与非门(24)的输出端各自分别接入所述输出电路中的两输入或非门(31)和两输入或非门(32)的输入端，所述两输入或非门(31)和两输入或非门(32)的另一输入端与所述主电路中的触发器(50)、触发器(51)、触发器(52)、触发器(53)的4个CLK端及所述输入电路中的两输入与门(22)的输出端相接；

所述输出电路中的两输入或非门(31)和两输入或非门(32)的输出端各自分别与所述输出电路中的触发器(54)和触发器(55)的CLK端相接，所述输出电路中的触发器(54)和触发器(55)的使能端连接到芯片管脚(POR_)，所述输出电路中的触发器(54)的Q端和触发器(55)的Q端各自分别与两输入与门(25)的输入端相接，所述输出电路中的触发器(54)的D端和触发器(55)的D端与电源(VDD)相接，所述输出电路中的两输入与门(25)的输出端与所述测试ROM的使能端相接。