[发明专利]用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统

摘要

本发明公开了一种用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统，包括光谱频带I相干层析成像系统、光谱频带II相干层析成像系统和中央处理器；中央处理器接收测量支I和测量支II干涉叠加数据通过公式进行分析处理；本发明能够拟合光源功率差异以及光电转换效率对检测结果的影响，避免现有技术中由于光源功率差异与光电探头对不同波长的光电转换效率问题导致的测量不准确和难以实现正确诊断的问题，利用同步采集的光谱频带I被检测体的反射强度归一化光谱频带II的反射光强，得到光谱频带II的相对反射率，确保了被检测体的反射率的准确测量，从而准确诊断早期病变，为被检测体早期病变的及时诊断和治疗提供理论依据。

主权项

1.一种用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统，其特征在于：包括相干层析成像系统I、相干层析成像系统II和中央处理器；所述相干层析成像系统I和相干层析成像系统II均对应包括：光源I和光源II，用于为相干层析成像系统I和相干层析成像系统II提供光源，光源I和光源II波段不同；测量支I和测量支II，用于将由光源耦合形成的信号光入射至被检测体并接收被检测体对信号光的反射光；参考支I和参考支II，用于传输由光源耦合形成的参考光并使该参考光与对应的测量支I和测量支II的反射光干涉叠加；探测支I和探测支II，用于采集对应的测量支I和测量支II的反射光以及对应的参考支I和参考支II的反射光干涉叠加图像进行光电转化并传输至中央处理器进行分析处理；所述测量支I与测量支II通过耦合形成用于同步采集被检测体反射光的同一测量支；所述中央处理器接收测量支I和测量支II干涉叠加数据通过公式进行分析处理，其中R_x为被检测体的相对反射率，R_I(x，y，λ₁)为测量支I在被检测体的反射率，R_II(x，y，λ₂)为测量支II在被检测体的反射率，P₁为测量支I入射至被检测体的光强，P₂为测量支II入射至被检测体的光强，η₁为测量支I的光电转化效率，η₂为测量支II的光电转化效率。