[发明专利]用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统有效

专利信息
申请号: 201210040410.X 申请日: 2012-02-22
公开(公告)号: CN102599883A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 胡建明;李建福 申请(专利权)人: 无锡渝跃科技有限公司
主分类号: A61B3/14 分类号: A61B3/14
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 谢殿武
地址: 214125 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 用于 早期 病变 检测 双频 光学 相干 层析 成像 系统
【权利要求书】:

1.一种用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统,其特征在于:包括相干层析成像系统I、相干层析成像系统II和中央处理器;

所述相干层析成像系统I和相干层析成像系统II均对应包括:

光源I和光源II,用于为相干层析成像系统I和相干层析成像系统II提供光源,光源I和光源II波段不同;

测量支I和测量支II,用于将由光源耦合形成的信号光入射至被检测体并接收被检测体对信号光的反射光;

参考支I和参考支II,用于传输由光源耦合形成的参考光并使该参考光与对应的测量支I和测量支II的反射光干涉叠加;

探测支I和探测支II,用于采集对应的测量支I和测量支II的反射光以及对应的参考支I和参考支II的反射光干涉叠加图像进行光电转化并传输至中央处理器进行分析处理;

所述测量支I与测量支II通过耦合形成用于同步采集被检测体反射光的同一测量支;

所述中央处理器接收测量支I和测量支II干涉叠加数据通过公式进行分析处理,其中Rx为被检测体的相对反射率,RI(x,y,λ1)为测量支I在被检测体的反射率,RII(x,y,λ2)为测量支II在被检测体的反射率,P1为测量支I入射至被检测体的光强,P2为测量支II入射至被检测体的光强,η1为测量支I的光电转化效率,η2为测量支II的光电转化效率。

2.根据权利要求1所述的用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统,其特征在于:所述光源I经过滤波片及耦合透镜处理后通过2×2光纤分束器I耦合形成参考支I和测量支I,所述测量支I接入2×2光纤分束器I;

所述光源II通过2×2光纤分束器II耦合形成参考支II和测量支II,所述测量支II接入2×2光纤分束器II。

3.根据权利要求2所述的用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统,其特征在于:所述光源I通过一1×2光纤分束器I后一支进入2×2光纤分束器I,另一支进入一用于检测光源I的稳定性信号并将该信号反馈至光源I的控制系统I的光电探测器I;

所述光源II通过一1×2光纤分束器II后一支进入2×2光纤分束器II,另一支进入一用于检测相干层析成像系统II的稳定性信号并将该信号反馈至光源I的控制系统II的光电探测器II。

4.根据权利要求3所述的用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统,其特征在于:所述测量支I包括用于接收2×2光纤分束器I传来的干涉叠加信号的光谱仪I和用于接收光谱仪I传来的光谱信号并将其转化为数字信号输送至中央处理器的CCD图像传感器I;

所述测量支II包括用于接收2×2光纤分束器II传来的干涉叠加信号的光谱仪II和用于接收光谱仪II传来的光谱信号并将其转化为数字信号输送至中央处理器的CCD图像传感器II。

5.根据权利要求4所述的用于早期病变检测的双频带光学相干层析成像系统,其特征在于:所述测量支I与测量支II通过测量耦合滤波片耦合形成同一测量支。

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