[发明专利]磁头噪声测试过程中的频谱模拟方法及磁头噪声测试方法有效

专利信息
申请号: 201210027288.2 申请日: 2012-02-08
公开(公告)号: CN103247300B 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 林浩基;雷卓文;梁钊明;张启超;陈华俊;丁菊仁;倪荣光 申请(专利权)人: 新科实业有限公司
主分类号: G11B5/455 分类号: G11B5/455
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 郝传鑫
地址: 中国香港新界沙田香*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明公开了一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法,包括以下步骤(11),采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测,从而获得多个第一噪声观测图;(22),在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线,其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线,其中每一所述第一噪声曲线的频率带宽低于每一所述第二噪声曲线的频率带宽;(33),将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程;以及(44),在多个所述数学方程之间建立一相关方程,从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。本发明能模拟噪声观测图的在较高频率带宽范围下的第二噪声曲线,并根据该第二噪声曲线建立相关方程,从而节省测试时间,提高测试效率并提高测试精度。
搜索关键词: 磁头 噪声 测试 过程 中的 频谱 模拟 方法
【主权项】:
一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法,其特征在于,包括以下步骤:(11),采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测,从而获得多个第一噪声观测图;(22),在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线,其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线,其中每一所述第一噪声曲线的频率带宽低于每一所述第二噪声曲线的频率带宽;(33),将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程;以及(44),在多个所述数学方程之间建立一相关方程,从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。
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