[发明专利]磁头噪声测试过程中的频谱模拟方法及磁头噪声测试方法

权利要求书

1.一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：

(11)，采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测，从而获得多个第一噪声观测图；

(22)，在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线，其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线，其中每一所述第一噪声曲线的频率带宽低于每一所述第二噪声曲线的频率带宽；

(33)，将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程；以及

(44)，在多个所述数学方程之间建立一相关方程，从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。

2.如权利要求1所述的频谱模拟方法，其特征在于：步骤(33)中的所述数学方程和步骤(44)中的所述相关方程均为线性函数。

3.如权利要求2所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述步骤(33)包括子步骤(331)：将每一所述第二噪声曲线拟合成直线，从而根据多个所述直线计算出多个斜率和多个截距；所述步骤(44)包括子步骤(441)：根据多个所述斜率和多个所述截距建立第一线性函数。

4.如权利要求3所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述步骤(44)还包括子步骤(442)：在不同的预定频率带宽上重复所述步骤(22)，从而获得多个所述第二噪声曲线；重复所述子步骤(331)和(441)，从而建立多个不同的第一线性函数并获得一个固定截距。

5.如权利要求4所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述步骤(44)还包括子步骤(443)：根据不同的所述第一线性函数建立第二线性函数，从而获得所述预定频率带宽和所述第一线性函数的斜率之间的关系。

6.如权利要求5所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述步骤(44)还包括子步骤(444)：根据在所述子步骤(443)中建立的所述第二线性函数和在所述子步骤(442)中计算出的所述固定截距建立一显示噪声水平和所述预定频率带宽之间关系的通式。

7.如权利要求1所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述第一频率带宽范围是0Hz～1GHz，其中不包括端点值0Hz。

8.如权利要求7所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述第一频率带宽范围是0Hz～300MHz，其中不包括端点值0Hz。

9.如权利要求1所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述预定频率带宽的取值范围是0Hz～200MHz，其中不包括端点值0Hz。

10.如权利要求1所述的频谱模拟方法，其特征在于：所述预定频率带宽为80MHz。

11.一种采用如权利要求1所述的频谱模拟方法的磁头噪声测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)，采用一静态测试机在0Hz至所述预定频率带宽之间的范围内对一磁头进行检测，从而获得第二噪声观测图的第三噪声曲线；

(2)，放大所述第三噪声曲线，从而使得所述第三噪声曲线的增益与所述第一噪声观测图的所述第一噪声曲线的增益相一致；以及

(3)，根据所述相关方程模拟出高于所述预定频率带宽的频率带宽上的所述第二噪声观测图的第四噪声曲线。

12.如权利要求11所述的磁头噪声测试方法，其特征在于：所述步骤(33)中的所述数学方程和步骤(44)中的所述相关方程均为线性函数。

13.如权利要求12所述的磁头噪声测试方法，其特征在于：所述步骤(33)包括子步骤(331)：将每一所述第二噪声曲线拟合成直线，从而根据多个所述直线计算出多个斜率和多个截距；所述步骤(44)包括子步骤(441)：根据多个所述斜率和多个所述截距建立第一线性函数。

14.如权利要求13所述的磁头噪声测试方法，其特征在于：所述步骤(44)还包括子步骤(442)：在不同的预定频率带宽上重复所述步骤(22)，从而获得多个所述第二噪声曲线；重复所述子步骤(331)和(441)，从而建立多个不同的第一线性函数并获得一个固定截距。

15.如权利要求14所述的磁头噪声测试方法，其特征在于：所述步骤(44)还包括子步骤(443)：根据不同的所述第一线性函数建立第二线性函数，从而获得所述预定频率带宽和所述第一线性函数的斜率之间的关系。