[发明专利]磁头噪声测试过程中的频谱模拟方法及磁头噪声测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及记录磁盘驱动单元，尤其涉及磁盘驱动单元中的磁头的噪声测试方法，以及其中使用的频谱模拟方法。更具体地，本发明涉及一种在较高频率带宽下利用静态测试机测试磁头噪声的方法。

背景技术

随着磁盘驱动装置的容量逐渐增加、尺寸逐渐缩小，当前需要更高灵敏度和高分辨率的薄膜型磁头迎合此需求。例如，现广泛应用的巨磁效应(GMR)薄膜型磁头，其具有的GMR读头元件包括由磁化固定层和磁化自由层等的多层结构；又如现正投入实际应用的隧道磁阻效应(TMR)薄膜型磁头，其具有更高灵敏度和更高分辨率的TMR读头元件。

在具有MR读头元件的薄膜型磁头中，可能包含在其输出中产生噪声，如巴克豪森噪声的不良磁头。巴克豪森噪声的产生主要是由于当磁畴墙移动时，磁畴墙在由MR读头元件组成的磁性薄膜上发生损坏，并被施加于MR读头元件上的压力影响。由于该噪声的产生，磁头的性能会降低，例如，磁头的飞行高度不稳定，使得稳定性下降，进而读取数据的性能也降低。

因此，在磁头产品投入使用之前必须进行噪声测试。其中一种常用的方法是通过测量相应于流过磁头的具有变化频率带宽的感应电流而产生的噪声从而判断磁头是否合格或不良。由此，可获得磁头的噪声观测图并能测量出该磁头的噪声水平，从而判断该磁头是否合格。具体地，传统的噪声测试方法包括准静态测试和动态测试方法。

相应地，在测试过程中分别使用的是准静态测试机和动态测试机。其中，准静态测试机省时，效率高，但其只能在0～80MHz的频率带宽上测量磁头噪声。即，其电流频率带宽只能扩展至80MHz，准静态测试机很难测试在高于80MHz的频率带宽上磁头表现出来的噪声。而动态测试机则能在较宽的频率带宽上测试磁头噪声，当前，其能检测噪声的频率带宽能扩展得很高，如1GHz，甚至依测试装置的设定而扩展得更高频率带宽。一般地，频率带宽和噪声的关系可在噪声观测图中呈现，其展示了磁头的噪声特征，从噪声观测图则可计算出磁头的噪声水平。与准静态测试方法对比，动态测试方法的精度更高，能检测到磁头在更高频率带宽上产生的噪声。然而，动态测试方法花费的时间很长，因此测试效率十分低，不符合批量磁头的大批量测试。

因此，亟待一种具有改进的准静态测试方法，其能利用准静态测试机在更宽的频率带宽下测试磁头的噪声，以克服上述缺陷。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种磁头噪声测试过程中的频谱模拟方法，其能模拟噪声观测图的在较高频率带宽范围下的第二噪声曲线，并根据该第二噪声曲线建立相关方程。

本发明的另一目的在于提供一种使用频谱模拟方法进行的磁头噪声测试方法，其能用准静态测试机检测磁头在较高频率带宽下产生的噪声，从而节省测试时间，提高测试效率并提高测试精度。

为实现上述目的，本发明提供一种用于磁头噪声测试的频谱模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：

(11)，采用一动态测试机在第一频率带宽范围内对若干磁头进行检测，从而获得多个第一噪声观测图；

(22)，在一预定频率带宽上将每一所述噪声观测图划分成至少两段噪声曲线，其包括第一噪声曲线和第二噪声曲线，其中每一所述第一噪声曲线的频率带宽低于每一所述第二噪声曲线的频率带宽；

(33)，将每一所述第二噪声曲线拟合成数学方程；以及

(44)，在多个所述数学方程之间建立一相关方程，从而模拟出每一磁头的所述第二噪声曲线。

较佳地，步骤(33)中的所述数学方程和步骤(44)中的所述相关方程均为线性函数。

作为一个优选实施例，所述步骤(33)包括子步骤(331)：将每一所述第二噪声曲线拟合成直线，从而根据多个所述直线计算出多个斜率和多个截距；所述步骤(44)包括子步骤(441)：根据多个所述斜率和多个所述截距建立第一线性函数。

较佳地，所述步骤(44)还包括子步骤(442)：在不同的预定频率带宽上重复所述步骤(22)，从而获得多个所述第二噪声曲线；重复所述子步骤(331)和(441)，从而建立多个不同的第一线性函数并获得一个固定截距。

较佳地，所述步骤(44)还包括子步骤(443)：根据不同的所述第一线性函数建立第二线性函数，从而获得所述预定频率带宽和所述第一线性函数的斜率之间的关系。

较佳地，所述步骤(44)还包括子步骤(444)：根据在所述子步骤(443)中建立的所述第二线性函数和在所述子步骤(442)中计算出的所述固定截距建立一显示噪声水平和所述预定频率带宽之间关系的通式。