[发明专利]具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器有效
| 申请号： | 201180026574.0 | 申请日： | 2011-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN103038751A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 斯科特·费勒尔;亨德里克·简（埃里克）·沃克里克;艾哈迈德·萨米·坦塔维 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273;G06F13/14;G06F13/38 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 李晓冬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种用在自动测试设备中的系统。在一个实施例中，该系统包括可配置的集成电路(IC)，该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式。该可配置的IC包括可配置的接口核，该接口核可编程为对于被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与DUT接口。该系统还包括可配置成将可配置的IC耦合到DUT的连接。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 可变 并行 固件可 升级 灵活 存储 接口 测试 | ||
【主权项】：
一种系统，包括：可配置的集成电路(IC)，该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式，其中所述可配置的IC包括可配置的接口核，并且其中所述可配置的接口核可编程为对于至少一个被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与所述至少一个DUT接口；以及连接，所述连接可配置成将所述可配置的IC耦合到所述至少一个DUT。
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