[发明专利]具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器有效

专利信息
申请号: 201180026574.0 申请日: 2011-05-18
公开(公告)号: CN103038751A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 斯科特·费勒尔;亨德里克·简(埃里克)·沃克里克;艾哈迈德·萨米·坦塔维 申请(专利权)人: 爱德万测试公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/273;G06F13/14;G06F13/38
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 李晓冬
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 具有 可变 并行 固件可 升级 灵活 存储 接口 测试
【说明书】:

相关申请的交叉引用

本申请与2010年5月28日提交的美国临时申请No.61/349,411相关,并且要求其优先权。申请No.61/349,411的说明书的全部内容通过引用结合在此。

技术领域

实施例涉及测试,并且具体涉及固态存储设备的测试。

背景技术

固态驱动器(SSD)是使用固态存储器来存储永久数据的数据存储设备。SSD模拟硬盘驱动接口,因此在大部分应用中容易将其替换。SSD通过标准化电气通信协议和物理接口连接器连接至个人计算机(PC)。SSD的常见示例为由电池供电的动态随机存取存储(DRAM)易失性存储器、基于NAND/NOR的闪速存储器和其他非易失性存储类技术。SSD可以具有不同的外形参数。SSD是相对较新的产品,并且行业处于定义如何对其进行测试的过程中。测试各种外形参数和接口标准存在机械上的挑战和协议/电气上的挑战。为了测试SSD,测试器需要能够通过物理连接器进行连接,并且支持接口协议和电信号传输。

目前,主导的测试架构使用基于PC的测试器。PC可以通过主机总线适配器(HBA)和线缆连接到存储设备。HBA及其软件驱动程序提供物理连接器、通信协议和电机从而将来自计算机的操作系统和存储协议级命令转换成存储设备可以理解的命令。HBA可以插入母板中。PC母板可以包括中央处理器(CPU)、存储器以及总线和控制器芯片以运行CPU、存储器和主机总线适配器。需要操作系统和驱动器来在PC上运行程序。CPU和存储器通过运行程序以发送数据到存储设备并从存储设备接收数据而允当共享模式发生器资源。基于PC的测试器的问题是它们存在基于所使用的组件的性能的性能和并行性限制。此外,增强性能和提高并行性的方法可能是昂贵的。

发明内容

在一个实施例中,提供了一种用在自动测试设备中的系统。在一个实施例中,该系统包括可配置的集成电路(IC),该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式。可配置的IC包括可配置的接口核,该接口核可编程为提供对于被测设备(DUT)的一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与DUT接口。该系统还包括连接,该连接可配置成将可配置的IC耦合到DUT。

附图说明

图1示出了示例的基于PC的测试系统的方块图;

图2示出了根据一个实施例的示例的基于现场可编程门阵列(FPGA)的测试系统的方块图;

图3A-3D示出了根据几个实施例的基于FPGA的测试系统的4种示例配置的方块图;

图4A和4B示出了基于FPGA的测试系统与基于PC的测试系统之间的尺寸差异;

图5示出了根据一个实施例的使用内插器(interposer)的基于FPGA的测试系统的方块图,该内插器使FPGA能够连接到不同类型的存储设备;

图6A-6E示出了根据几个实施例的使用内插器和卡盒(caddy)的基于FPGA的测试系统的方块图,该内插器和卡盒使FPGA能够连接到不同类型的存储设备;

图7示出了根据一个实施例的使用可编程片上系统的基于FPGA的测试系统的方块图;

图8A和8B示出了基于FPGA的测试系统可以测试的各种被测设备(DUT);

图9为根据一个实施例的用于测试存储设备的示例方法的流程图。

具体实施方式

本文所述实施例提供了一种用在自动测试设备中的系统。实施例还提供了一种用于测试被测设备(DUT)的相应方法,其中可以利用本文公开的系统实施例来使用该方法。在一个实施例中,系统包括可配置的集成电路(IC),例如现场可编程门阵列(FPGA),该集成电路被编程为提供用在自动测试设备中的测试模式。可配置的IC包括接口核,该接口核与至少一个DUT接口并且提供主机总线适配器的功能。短语“接口核”和“IP核”可互换使用。该系统还包括与至少一个DUT的连接,其中该连接是直接耦合在可配置的IC与至少一个DUT之间。如以下更加详细地描述,可配置的IC实现基于PC的测试器的功能,然而避免了基于PC的测试器在灵活性、可缩放性、性能和成本上的固有缺陷。

如以下更加详细地描述,可配置的IC在测试DUT上提供了很大灵活性。如以下更加详细地描述,一些优点包括更小的测试器尺寸、增加的接口灵活性、极大简化的产品组合支持、更低的成本和改进的相关性和兼容性。

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