[发明专利]具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器

权利要求书

1.一种系统，包括：

可配置的集成电路(IC)，该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式，其中所述可配置的IC包括可配置的接口核，并且其中所述可配置的接口核可编程为对于至少一个被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与所述至少一个DUT接口；以及

连接，所述连接可配置成将所述可配置的IC耦合到所述至少一个DUT。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述可配置的接口核被编程有用于测试具有不同的基于协议的通信接口的多个DUT的多个不同的协议。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，同时实现两个或更多个协议，使得能够测试多个协议并且同时使得能够测试具有多个协议的模块。

4.根据权利要求1所述的系统，其中，一次实现一个协议，并且对所述接口核重编程使得能够测试不同协议并且使得能够优化多个并行的DUT。

5.根据权利要求1所述的系统，其中，所述可配置的接口核是用户可升级的以允许现场重编程。

6.根据权利要求1所述的系统，其中，所述可配置的接口核被预先验证完全符合至少一个标准化的基于协议的通信接口。

7.根据权利要求1所述的系统，其中，所述可配置的IC是使得能实现与基于PC的测试系统的相关性的可编程片上系统(SOPC)。

8.根据权利要求1所述的系统，还包括耦合到所述可配置的IC的内插器。

9.根据权利要求1所述的系统，还包括以下各项中的一个或多个：

内插器，所述内插器耦合到所述可配置的IC；以及

卡盒，所述卡盒耦合到所述内插器并且耦合到所述至少一个DUT，其中所述卡盒提供所述可编程的IC的可配置的测试器引脚与DUT特定接口之间的空间转换。

10.根据权利要求1所述的系统，还包括以下各项中的一个或多个：

内插器，所述内插器耦合到所述可配置的IC；以及

卡盒，所述卡盒耦合到所述内插器并且耦合到所述至少一个DUT，其中所述卡盒为了操纵的目的而具有接收不同DUT的通用形状。

11.根据权利要求1所述的系统，还包括耦合在所述可编程的IC的可配置的测试器引脚与所述至少一个DUT之间的卡盒，其中所述卡盒是牺牲元件，以在所述至少一个DUT使用比所述可配置的测试器所使用的连接器失效得更快的连接器时保护可配置的测试器引脚。

12.一种可配置的集成电路(IC)，包括：

可配置的接口核，其中所述可配置的接口核可编程为：

为至少一个被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能；并且

与所述至少一个DUT接口，并且其中所述可配置的IC提供用在自动测试设备中的测试模式。

13.根据权利要求12所述的可配置的IC，其中，所述可配置的接口核被编程有用于测试具有不同的基于协议的通信接口的多个DUT的多个不同的协议。

14.根据权利要求12所述的可配置的IC，其中，同时实现两个或更多个协议，使得能够测试多个协议并且同时使得能够测试具有多个协议的模块。

15.根据权利要求12所述的可配置的IC，其中，一次实现一个协议，并且对所述接口核重编程使得能够测试不同的协议并且使得能够优化多个并行的DUT。

16.根据权利要求12所述的可配置的IC，其中，所述可配置的接口核是用户可升级的以允许现场重编程。

17.根据权利要求12所述的可配置的IC，其中，所述可配置的接口核被预先验证完全符合至少一个标准化的基于协议的通信接口。

18.根据权利要求12所述的可配置的IC，其中，所述可配置的IC是使得能实现与基于PC的测试系统的相关性的可编程片上系统(SOPC)。

19.根据权利要求12所述的可配置的IC，还包括耦合到所述可配置的IC的内插器。

20.一种方法，包括：

使用可配置的集成电路(IC)提供测试模式，其中所述测试模式用在自动测试设备中以测试至少一个被测设备(DUT)；

提供可配置的接口核，所述接口核可编程为对于至少一个被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能并且可编程为与所述至少一个DUT接口；以及

提供连接，所述连接可配置成将所述可配置的IC耦合到所述至少一个DUT。