[实用新型]用于光学元件检测的改进水平基座结构有效
| 申请号： | 201120465312.1 | 申请日： | 2011-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN202329663U | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 李国彬;武锐;赵莹 | 申请（专利权）人： | 北京创思工贸有限公司 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 101113 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，本实用新型的技术方案是：一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，它包括光学平晶或金属制水平平台、至少三个钢珠或一个铜环，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上；还包括靠体，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上位于靠近钢珠或铜环的位置。被测元件与光学平晶或金属制水平平台之间为点接触，能有效地减少对被测光学元件表面光洁度的伤害。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 元件 检测 改进 水平 基座 结构 | ||
【主权项】：
一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于：它包括光学平晶或金属制水平平台，至少三个钢珠或一个铜环，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上；还包括靠体，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上位于靠近钢珠或铜环的位置。
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