[实用新型]用于光学元件检测的改进水平基座结构有效
| 申请号： | 201120465312.1 | 申请日： | 2011-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN202329663U | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 李国彬;武锐;赵莹 | 申请（专利权）人： | 北京创思工贸有限公司 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 101113 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 光学 元件 检测 改进 水平 基座 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于：它包括光学平晶或金属制水平平台，至少三个钢珠或一个铜环，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上；还包括靠体，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上位于靠近钢珠或铜环的位置。
2.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于所述靠体为立方体。
3.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于所述铜环位于光学平晶或金属制水平平台的高度处处相同。
4.根据权利要求1或2所述的一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于所述的钢珠为三个，呈三角形分布。
5.根据权利要求1或2所述的一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于所述的钢珠为四个，呈不规则分布。
6.根据权利要求4所述的一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于所述三个钢珠的形状、尺寸完全一致。
7.根据权利要求5所述的一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，其特征在于所述四个钢珠的形状、尺寸完全一致。
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