[实用新型]用于光学元件检测的改进水平基座结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，尤其是能有效地减少对被测光学元件表面光洁度伤害的水平基座。

背景技术

在光学检测中，常常需要把被测光学元件放在水平面上检测，而表面粗糙度很小且平面度误差也极小的光学平晶是很好的选择。但是，如果被测元件和光学平晶的接触面之间有杂质，不仅会影响到检测的结果，而且当被测元件在光学平晶上移动时还可能会伤害到被测元件的表面光洁度。因此，在光学元件检测时，每次把被测元件放到光学平晶上时，都需要对被测元件和光学平晶的接触面进行严格的清洁。尤其是对于接触面的表面光洁度要求非常高的光学元件时，更要确保光学平晶与被测元件接触面之间的洁净度。因此，这种检测方法不仅人工成本高，效率低，且对工作环境的洁净度要求也很高。

发明内容

本实用新型为了克服现有技术的不足，提供了一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，该水平基座能有效地减少对被测光学元件表面光洁度的伤害。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，它包括光学平晶或金属制水平平台、至少三个钢珠或一个铜环，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上；还包括靠体，固定在所述光学平晶或金属制水平平台上位于靠近钢珠或铜环的位置。被测元件紧挨着靠体放在钢珠或铜环上，靠体用来辅助固定被测元件。所述金属制水平平台的平行度近似于平晶。所述钢珠可以是三个，形状、尺寸完全一致，固定在光学平晶或金属制水平平台上，呈三角形分布；也可以是四个，形状、尺寸完全一致，固定在光学平晶或金属制水平平台上，呈不规则分布。所述铜环位于光学平晶或金属制水平平台的高度处处相同。被测元件与光学平晶或金属制水平平台之间为点接触，能有效地减少对被测光学元件表面光洁度的伤害。

本实用新型与现有技术相比具有以下的有益效果：

(1)、将水平基座与被测元件的平面直接接触改为点接触，从而大大减少了接触面积，减少了接触面的清洁工作量，只需清洁接触点部位，不仅节省人工成本，提高了效率，且对工作环境的洁净度要求也可降低。

(2)、将水平基座与被测元件的平面直接接触改为点接触，大大减少了被测元件在水平基座上移动时伤害到被测元件表面光洁度的机会，有效保护了被测元件的表面，尤其适用于对接触面的表面光洁度要求非常高的元件。同时也防止了接触面之间有杂质而影响到检测结果。

(3)、将被测元件紧挨着靠体放在钢珠或铜环上，既能保证检测时基本都是元件的同一位置，又能防止把被测元件放到钢珠或铜环上时被测元件不稳而滑落。

附图说明

图1是本实用新型实施例1主视图；

图2是本实用新型实施例1俯视图；

图3是本实用新型实施例1使用状态主视图；

图4是本实用新型实施例1使用状态俯视图；

图5是本实用新型实施例2主视图；

图6是本实用新型实施例2俯视图；

图7是本实用新型实施例2使用状态主视图；

图8是本实用新型实施例2使用状态俯视图；

图9是本实用新型实施例3主视图；

图10是本实用新型实施例3俯视图；

图11是本实用新型实施例3使用状态主视图；

图12是本实用新型实施例3使用状态俯视图。

具体实施方式

参见图1、图2、图5、图6、图9和图10，本实用新型为一种用于光学元件检测的改进水平基座结构，图中：1是光学平晶或金属制水平平台；2是三个形状、尺寸完全一致的钢珠，呈三角形分布，或者是四个形状、尺寸完全一致的钢珠，呈不规则分布；3是立方体靠体；4是被测光学元件；5是铜环，位于光学平晶或金属制水平平台的高度处处相同。用胶水或机械方式将钢珠2或铜环5固定在光学平晶或金属制水平平台1上。立方体靠体3靠近钢珠2或铜环5放置，用胶水或机械方式固定在光学平晶或金属制水平平台1上。将被测元件4和钢珠2或铜环5的接触部分严格清洁，把被测元件4紧挨着靠体3放在钢珠2或铜环5上，如图3、图4、图7、图8、图11和图12所示，即可完成光学元件的检测。