[实用新型]晶片贴合装置有效
| 申请号: | 201120461736.0 | 申请日: | 2011-11-18 |
| 公开(公告)号: | CN202384299U | 公开(公告)日: | 2012-08-15 |
| 发明(设计)人: | 石敦智;刘建志;林语尚;谢铭良 | 申请(专利权)人: | 苏州均华精密机械有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00 |
| 代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 马明渡 |
| 地址: | 江苏省苏州市吴中区目渎镇*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 一种晶片贴合装置,其于一机台中设有一晶粒供料装置、一取放装置、一基板承载装置、一第一视觉模块与一第二视觉模块,晶粒供料装置先供晶粒设置或定位,取放装置吸取位于装置的晶粒,再将晶粒移动至基板承载装置,通过第二视觉模块的光学对位辅助,而使晶粒得以精准地黏贴于基板处,藉此达到精密传输晶粒的效果并完成较佳的黏晶精度。 | ||
| 搜索关键词: | 晶片 贴合 装置 | ||
【主权项】:
晶片贴合装置,其应用于将至少一晶粒黏至一基板,其特征在于,该晶片贴合装置包括有:一机台;一基板承载装置,其设于该机台的一端,该基板承载装置供该基板设置;一晶粒供料装置,其设于该机台中,并且相邻于该基板承载装置;一取放装置,其设于该机台上,该取放装置于该基板承载装置与该晶粒供料装置之间移动;一用于取像且对位该晶粒供料装置的第一视觉模块,其设于该机台上;以及一用于垂直取像与对位该基板与该晶粒的第二视觉模块,其设于该机台上,并且位于该基板承载装置的上方。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





