[实用新型]通用型测试装置无效
| 申请号： | 201120137461.5 | 申请日： | 2011-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN202093054U | 公开（公告）日： | 2011-12-28 |
| 发明（设计）人： | 游文仁 | 申请（专利权）人： | 金都贺测具科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种通用型测试装置，固设有一用以承载待测电路板的承载板，承载板上方设置有用以朝向承载板来回运动的上基板，上基板呈矩阵排列有多个第一定位孔，而承载板呈矩阵排列有多个第二定位孔，且第一定位孔与第二定位孔为相对设置，并于第二定位孔内穿设有定位柱，使待测电路板利用定位柱定位于承载板表面时，待测电路板的测试点正对于第一定位孔，并于相对测试点的第一定位孔内固定有探针单元，让上基板朝向承载板移动时，探针单元可侦测待测电路板的测试点。 | ||
| 搜索关键词： | 通用型 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种通用型测试装置，固设有一用以承载待测电路板的承载板，承载板上方设置有用以朝向承载板来回运动的上基板，其特征在于：该上基板呈矩阵排列有多个第一定位孔，而承载板呈矩阵排列有多个第二定位孔，且第一定位孔与第二定位孔相对设置，并于第二定位孔内穿设有定位柱，使待测电路板利用定位柱定位于承载板表面时，待测电路板的测试点正对于第一定位孔，并于相对测试点的第一定位孔内固定有探针单元，让上基板朝向承载板移动时，探针单元可侦测待测电路板的测试点。
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