[实用新型]通用型测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种通用型测试装置，特别是可依照电路板的测试点排列探针单元的摆放位置，以达到通用于不同待测试电路板的通用型测试装置。

背景技术

现有的印刷电路板在制成后，尚须经过检测程式以检测该电路板线路是否为良品；在检测过程中主要利用多数的探针作为与待测试物间进行电性接触。该多个探针必须被固定于一连结于电路板的探针座上，并保持该多个探针的针尖相距预定的距离，以对应所欲进行测试电路板上的测试点间距。由于此等针尖间的距离必须靠人工在将各探针黏着于探针座上时，逐一地预先进行控制针尖间的距离后，再行将探针黏着于探针座上，因此易造成组装程序繁复以及探针黏着后有针尖间距不正确的情形，而导致必须先将已黏着该等探针的探针座整体加以拆除后，再另行装设一探针座于电路板上，尔后再重新进行黏着探针的作业。

然而，由于每次测量电路板测试点的位置不尽相同，因此各探针的针尖间距，必须对应于所欲进行测试电路板上的测点间距，当欲进行对不同测试点间距的电路板作接触测试时，则必须将各探针由探针座拆除后，再重新装设一探针座于电路板上，以重新进行不同针尖间距的探针黏着；因此当每次进行不同测试点间距的电路板测试时，则必须重新拆除一组探针座及黏着于上的探针，再将一组具有不同针尖间距的探针及相互黏着的探针座重新装设于电路板上，不仅作业程序较为繁杂，更有浪费探针座及其探针的情况产生。

是以，要如何解决上述现有的问题与缺失，即为从事此相关业者所亟欲研发的课题。

发明内容

本实用新型的主要目的在于，让使用者可依照不同待测电路板测试点的位置，直接于设置相对应的探针单元，以对待测的电路板进行单面以及双面测试点作接触测试，并可针对不同测试点的待测电路板进行测试，以屏除现有治具于测试不同电路板时，必须拆除针座及探针，再重新于针座上黏着设置探针等繁琐步骤。

为达上述目的，本实用新型提供一种通用型测试装置，固设有一用以承载待测电路板的承载板，承载板上方设置有用以朝向承载板来回运动的上基板，其中：

该上基板呈矩阵排列有多个第一定位孔，而承载板呈矩阵排列有多个第二定位孔，且第一定位孔与第二定位孔相对设置，并于第二定位孔内穿设有定位柱，使待测电路板利用定位柱定位于承载板表面时，待测电路板的测试点正对于第一定位孔，并于相对测试点的第一定位孔内固定有探针单元，让上基板朝向承载板移动时，探针单元可侦测待测电路板的测试点。

所述的通用型测试装置，其中，该上基板的多个第一定位孔与承载板的多个第二定位孔为矩形排列。

所述的通用型测试装置，其中，该上基板的多个第一定位孔与承载板的多个第二定位孔为圆形排列。

所述的通用型测试装置，其中，该待测电路板为硬式电路板。

所述的通用型测试装置，其中，该待测电路板为软式电路板。

所述的通用型测试装置，其中，该上基板周缘设置有多个用以锁固于测试机台的第一锁孔，而承载板周缘设置有多个用以锁固于测试机台的第二锁孔。

所述的通用型测试装置，其中，该承载板下方设置有用以朝向承载板来回运动的下基板，下基板呈矩阵排列有多个第三定位孔，且第三定位孔与第二定位孔相对设置，并于相对测试点的第三定位孔内固定有探针单元，让下基板朝向承载板移动时，探针单元能够穿越第二定位孔后，侦测待测电路板的测试点。

所述的通用型测试装置，其中，该下基板的多个第三定位孔为圆形排列。

所述的通用型测试装置，其中，该下基板的多个第三定位孔为矩形排列。

所述的通用型测试装置，其中，该下基板周缘设置有多个用以锁固于测试机台的第三锁孔。

附图说明

图1为本实用新型第一较佳实施例的立体外观图；

图2为本实用新型上基板的立体外观图；

图3为本实用新型上基板于插置探针单元时的立体示意图；

图4为本实用新型第一较佳实施例的测试状态示意图(一)；

图5为本实用新型第一较佳实施例的测试状态示意图(二)；

图6为本实用新型第二较佳实施例的立体外观图；

图7为本实用新型下基板于插置探针单元时的立体外观图；

图8为本实用新型第二较佳实施例的测试状态示意图。

附图标记说明：1-上基板；11-第一锁孔；12-第一定位孔；2-承载板；21-第二锁孔；22-第二定位孔；3-下基板；31-第三锁孔；32-第三定位孔；4-电路板；5-探针单元；51-套筒；52-探针；6-定位柱。

具体实施方式