[实用新型]通用型测试装置

权利要求书

1.一种通用型测试装置，固设有一用以承载待测电路板的承载板，承载板上方设置有用以朝向承载板来回运动的上基板，其特征在于：

该上基板呈矩阵排列有多个第一定位孔，而承载板呈矩阵排列有多个第二定位孔，且第一定位孔与第二定位孔相对设置，并于第二定位孔内穿设有定位柱，使待测电路板利用定位柱定位于承载板表面时，待测电路板的测试点正对于第一定位孔，并于相对测试点的第一定位孔内固定有探针单元，让上基板朝向承载板移动时，探针单元可侦测待测电路板的测试点。

2.如权利要求1所述的通用型测试装置，其特征在于，该上基板的多个第一定位孔与承载板的多个第二定位孔为矩形排列。

3.如权利要求1所述的通用型测试装置，其特征在于，该上基板的多个第一定位孔与承载板的多个第二定位孔为圆形排列。

4.如权利要求1所述的通用型测试装置，其特征在于，该待测电路板为硬式电路板。

5.如权利要求1所述的通用型测试装置，其特征在于，该待测电路板为软式电路板。

6.如权利要求1所述的通用型测试装置，其特征在于，该上基板周缘设置有多个用以锁固于测试机台的第一锁孔，而承载板周缘设置有多个用以锁固于测试机台的第二锁孔。

7.如权利要求1所述的通用型测试装置，其特征在于，该承载板下方设置有用以朝向承载板来回运动的下基板，下基板呈矩阵排列有多个第三定位孔，且第三定位孔与第二定位孔相对设置，并于相对测试点的第三定位孔内固定有探针单元，让下基板朝向承载板移动时，探针单元能够穿越第二定位孔后，侦测待测电路板的测试点。

8.如权利要求7所述的通用型测试装置，其特征在于，该下基板的多个第三定位孔为圆形排列。

9.如权利要求7所述的通用型测试装置，其特征在于，该下基板的多个第三定位孔为矩形排列。

10.如权利要求7所述的通用型测试装置，其特征在于，该下基板周缘设置有多个用以锁固于测试机台的第三锁孔。