[实用新型]数码微弱痕迹提取仪无效

专利信息
申请号: 201120054048.2 申请日: 2011-03-03
公开(公告)号: CN201936108U 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 朱双全 申请(专利权)人: 朱双全
主分类号: G03B17/14 分类号: G03B17/14;G03B15/05;G03B17/56;G02B7/182
代理公司: 北京双收知识产权代理有限公司 11241 代理人: 王菊珍
地址: 232072 安徽省淮*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种数码微弱痕迹提取仪,属于提取犯罪现场痕迹的仪器技术领域,包括数码相机等,数码相机固定于第一接圈上,第一接圈内腔下部设置有透镜,第一接圈下端与基座连接,半反射半透射平面镜以45°倾角安装于基座内腔,基座为内部上下贯通的腔体,腔体后侧壁与灯筒前端垂直连接,灯筒内腔安装聚光镜调整环,聚光镜安装于聚光镜调整环内,灯筒壁设有槽孔,调整螺丝穿过槽孔后插接于聚光镜调整环上,灯筒后端与发光二极管固定座前端连接,大功率半导体发光二极管固定于发光二极管固定座上,发光二极管固定座的后部腔体内安装有驱动电源。本实用新型可以在犯罪现场快速并且高质量提取现场痕迹。
搜索关键词: 数码 微弱 痕迹 提取
【主权项】:
一种数码微弱痕迹提取仪,包括数码相机(1)、半反射半透射平面镜(2)和聚光镜(7),所述半反射半透射平面镜(2)设置于数码相机(1)的下方且与竖直面及水平面的夹角均为45度,所述聚光镜(7)位于半反射半透射平面镜(2)的后侧,其特征在于:还包括透镜(3)、筒形第一接圈(4)、基座(5)、灯筒(6)、聚光镜调整环(8)、调整螺丝(9)、大功率半导体发光二极管(10)、发光二极管固定座(11)及驱动电源(12),所述数码相机(1)下端固定于第一接圈(4)的上端,所述第一接圈(4)的内腔下部安装透镜(3),所述第一接圈(4)的下端与基座(5)的上端连接,所述基座(5)为内部上下贯通的腔体,所述半反射半透射平面镜(2)安装于基座(5)的内腔,所述基座(5)的后侧壁设有通孔(51),所述灯筒(6)的前端连接到通孔(51)上,所述灯筒(6)的轴线与基座(5)的轴线垂直,所述灯筒(6)的内腔安装有聚光镜调整环(8),所述灯筒(6)的筒壁设有一由前向后相对于轴线倾斜的槽孔(61),所述聚光镜(7)安装于所述聚光镜调整环(8)内,所述调整螺丝(9)穿过槽孔(61)后螺接于聚光镜调整环(8)侧壁上,所述灯筒(6)的后端与发光二极管固定座(11)的前端连接,所述大功率半导体发光二极管(10)固定于发光二极管固定座(11)的前面,所述大功率半导体发光二极管(10)位于所述聚光镜调整环(8)的后侧,所述发光二极管固定座(11)的内腔安装有驱动电源(12)。
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