[实用新型]数码微弱痕迹提取仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种提取犯罪现场痕迹的仪器，尤其是一种数码微弱痕迹提取仪。

背景技术

具备一定反射率客体上的痕迹，如各类镀膜面，油漆面、平滑金属面、含胶量高的高档纸张、高级包装盒、塑料、玻璃及陶瓷等大量生活设施上的痕迹用同轴光摄影或称定向反射摄影装置可以做到有效提取，现有的同轴光摄影装置包括照相机、照相机固定调整支架、半反射半透射平面镜和聚光灯(由聚光镜与普通灯泡组成)，半反射半透射平面镜倾斜放置，其与竖直面及水平面的倾斜夹角均为45度，照相机位于半反射半透射平面镜的上方，聚光灯位于半反射半透射平面镜的后侧，应用时，聚光灯发出的光射在半反射半透射平面镜上，其中的1/2光经90°反射到半反射半透射平面镜下面的痕迹平面上，从痕迹平面反射回的部分光线再次穿过半反射半透射平面镜进入照相机的镜头成像。现有的该类装置没有做到良好的集成，附件多携带不方便，而且出射光束没有做到良好的准直，痕迹图像反射的光线不可能完全进入照相机的镜头，影响对微弱痕迹图像的细节分辨，并且聚光灯采用常规的灯泡进行聚光，光源组件体积偏大且光斑汇聚不易达到均匀效果。有些简易的同类装置应用时需要较暗的工作环境。

以上不足影响了现场环境下携带应用及犯罪现场勘查的效率。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种数码微弱痕迹提取仪，在现场勘查不需要其他附件即可直接采用数码照相方式提取痕迹、勘查效率高且便于携带。

为了实现上述方案，本实用新型的技术解决方案为：一种数码微弱痕迹提取仪，包括数码相机、半反射半透射平面镜和聚光镜，所述半反射半透射平面镜设置于数码相机的下方且与竖直面及水平面的夹角均为45度，所述聚光镜位于半反射半透射平面镜的后侧，其中还包括透镜、筒形第一接圈、基座、灯筒、聚光镜调整环、调整螺丝、大功率半导体发光二极管、发光二极管固定座及驱动电源，所述数码相机下端固定于第一接圈的上端，所述第一接圈的内腔下部安装透镜，所述第一接圈的下端与基座的上端连接，所述基座为内部上下贯通的腔体，所述半反射半透射平面镜安装于基座的内腔，所述基座的后侧壁设有通孔，所述灯筒的前端连接到通孔上，所述灯筒的轴线与基座的轴线垂直，所述灯筒的内腔安装有聚光镜调整环，所述灯筒的筒壁设有一由前向后相对于轴线倾斜的槽孔，所述聚光镜安装于所述聚光镜调整环内，所述调整螺丝穿过槽孔后螺接于聚光镜调整环侧壁上，所述灯筒的后端与发光二极管固定座的前端连接，所述大功率半导体发光二极管固定于发光二极管固定座的前面，所述大功率半导体发光二极管位于所述聚光镜调整环的后侧，所述发光二极管固定座的内腔安装有驱动电源。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述基座的内腔由上至下设有上、下端固定衬套，所述半反射半透射平面镜设置于所述上、下端固定衬套之间，所述上固定衬套的下端面、下固定衬套的上端面与半反射半透射平面镜的表面平行，所述下固定衬套的后端设有与所述基座后端的通孔相通的第二通孔，所述基座的下端敞口处通过螺环将上固定衬套、下固定衬套及半反射半透射平面镜固定于所述基座的内腔。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述数码相机与第一接圈之间安装第二接圈，所述第二接圈与第一接圈之间安装偏振镜调整环，所述偏振镜调整环内安装第一偏振镜片，所述灯筒的内腔前部安装第二偏振镜片，所述第二偏振镜片安装于螺环上，所述螺环固定在灯筒内，所述第二偏振镜片位于所述聚光镜调整环的前侧。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述透镜为凸透镜或透镜组。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述数码相机与第二接圈之间、第二接圈与偏振镜调整环之间、偏振镜调整环与第一接圈之间、第一接圈与基座之间、基座与灯筒之间及灯筒与发光二极管固定座之间均通过螺纹连接。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述数码相机的下端安装于一相机固定座上，所述相机固定座与第二接圈之间通过螺纹连接。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述发光二极管固定座外表面设有若干圈相间隔的环形凹槽。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述大功率半导体发光二极管采用金属基板片状大功率芯片。

本实用新型数码微弱痕迹提取仪，其中所述发光二极管固定座的后端设有一腔体，该腔体端口通过一端盖密封。