[实用新型]数码微弱痕迹提取仪

权利要求书

1.一种数码微弱痕迹提取仪，包括数码相机(1)、半反射半透射平面镜(2)和聚光镜(7)，所述半反射半透射平面镜(2)设置于数码相机(1)的下方且与竖直面及水平面的夹角均为45度，所述聚光镜(7)位于半反射半透射平面镜(2)的后侧，其特征在于：还包括透镜(3)、筒形第一接圈(4)、基座(5)、灯筒(6)、聚光镜调整环(8)、调整螺丝(9)、大功率半导体发光二极管(10)、发光二极管固定座(11)及驱动电源(12)，所述数码相机(1)下端固定于第一接圈(4)的上端，所述第一接圈(4)的内腔下部安装透镜(3)，所述第一接圈(4)的下端与基座(5)的上端连接，所述基座(5)为内部上下贯通的腔体，所述半反射半透射平面镜(2)安装于基座(5)的内腔，所述基座(5)的后侧壁设有通孔(51)，所述灯筒(6)的前端连接到通孔(51)上，所述灯筒(6)的轴线与基座(5)的轴线垂直，所述灯筒(6)的内腔安装有聚光镜调整环(8)，所述灯筒(6)的筒壁设有一由前向后相对于轴线倾斜的槽孔(61)，所述聚光镜(7)安装于所述聚光镜调整环(8)内，所述调整螺丝(9)穿过槽孔(61)后螺接于聚光镜调整环(8)侧壁上，所述灯筒(6)的后端与发光二极管固定座(11)的前端连接，所述大功率半导体发光二极管(10)固定于发光二极管固定座(11)的前面，所述大功率半导体发光二极管(10)位于所述聚光镜调整环(8)的后侧，所述发光二极管固定座(11)的内腔安装有驱动电源(12)。

2.如权利要求1所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述基座(5)的内腔由上至下设有上、下端固定衬套(19，20)，所述半反射半透射平面镜(2)设置于所述上、下端固定衬套(19，20)之间，所述上固定衬套(19)的下端面、下固定衬套(20)的上端面与半反射半透射平面镜(2)的表面平行，所述下固定衬套(20)的后端设有与所述基座(5)后端的通孔(51)相通的第二通孔(201)，所述基座(5)的下端敞口处通过螺环(21)将上固定衬套(19)、下固定衬套(20)及半反射半透射平面镜(2)固定于所述基座(5)的内腔。

3.如权利要求2所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述数码相机(1)与第一接圈(4)之间安装第二接圈(13)，所述第二接圈(13)与第一接圈(4)之间安装偏振镜调整环(14)，所述偏振镜调整环(14)内安装第一偏振镜片(15)，所述灯筒(6)的内腔前部安装第二偏振镜片(17)，所述第二偏振镜片(17)安装于螺环(16)上，所述螺环(16)固定在灯筒(6)内，所述第二偏振镜片(17)位于所述聚光镜调整环(8)的前侧。

4.如权利要求3所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述透镜(3)为凸透镜或透镜组。

5.如权利要求4所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述数码相机(1)与第二接圈(13)之间、第二接圈(13)与偏振镜调整环(14)之间、偏振镜调整环(14)与第一接圈(4)之间、第一接圈(4)与基座(5)之间、基座(5)与灯筒(6)之间及灯筒(6)与发光二极管固定座(11)之间均通过螺纹连接。

6.如权利要求5所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述数码相机(1)的下端安装于一相机固定座(18)上，所述相机固定座(18)与第二接圈(13)之间通过螺纹连接。

7.如权利要求6所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述发光二极管固定座(11)外表面设有若干圈相间隔的环形凹槽(111)。

8.如权利要求7所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述大功率半导体发光二极管(10)采用金属基板片状大功率芯片。

9.如权利要求8所述的数码微弱痕迹提取仪，其特征在于：所述发光二极管固定座(11)的后端设有一腔体，该腔体端口通过一端盖(22)密封。