[发明专利]基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路有效
| 申请号： | 201110452964.6 | 申请日： | 2011-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN102565674A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 杜占坤;王刚 | 申请（专利权）人： | 镇江艾科半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212009 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，包括PXI测试信号源、PXI测试设备、被测设备、输入测试部分和输出测试部分，所述的PXI测试信号源与输入测试部分输入端连接，输入测试部分的输出端和输出测试部分的输入端分别连接被测设备，输出测试部分的输出端连接PXI测试设备。采用本电路的测试板卡，可同时测试两个相同或不同的射频功率放大器，可自动测试射频功率放大器的常用参数，避免了繁琐的单参数分步骤的传统测试方法，可大大降低测试费用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 pxi 测试 设备 双通道 射频 功率放大器 自动 电路 | ||
【主权项】：
一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，包括PXI测试信号源、PXI测试设备、被测设备、输入测试部分和输出测试部分，其特征是：所述的PXI测试信号源与输入测试部分输入端连接，输入测试部分的输出端和输出测试部分的输入端分别连接被测设备，输出测试部分的输出端连接PXI测试设备；所述的输入测试部分包括高低通带测试通道和天线插损测试通道中的至少一种，所述的高低通带测试通道和天线插损测试通道并联，并由选通开关选择；所述的输出测试部分包括收发隔离度测试通道、功率测试通道和谐波测试通道中的至少一种，所述的收发隔离度测试通道、功率测试通道和谐波测试通道相互并联，并由选通开关选择。
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