[发明专利]基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路

权利要求书

1.一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，包括PXI测试信号源、PXI测试设备、被测设备、输入测试部分和输出测试部分，其特征是：所述的PXI测试信号源与输入测试部分输入端连接，输入测试部分的输出端和输出测试部分的输入端分别连接被测设备，输出测试部分的输出端连接PXI测试设备；

所述的输入测试部分包括高低通带测试通道和天线插损测试通道中的至少一种，所述的高低通带测试通道和天线插损测试通道并联，并由选通开关选择；

所述的输出测试部分包括收发隔离度测试通道、功率测试通道和谐波测试通道中的至少一种，所述的收发隔离度测试通道、功率测试通道和谐波测试通道相互并联，并由选通开关选择。

2.根据权利要求1所述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，其特征是：所述的选通开关是射频收发开关。

3.根据权利要求1所述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，其特征是：所述的高低通带测试电路包括，与PXI设备信号源连接的射频收发开关(1316)，射频收发开关(1316)分别连接有低通带低通滤波器(1318)和高通带低通滤波器(1319)，低通带低通滤波器(1318)通过低通带切换射频收发开关(1320)与被测设备连接，高通带低通滤波器(1319)通过高通带切换射频收发开关(1321)与被测设备连接。

4.根据权利要求1所述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，其特征是：所述的收发隔离度测试通道包括并联射频收发开关(1312，1313，1314，1315)和与其连接的射频收发开关(1310)，射频收发开关(1310)通过射频收发开关(1311)连接PXI测试设备。

5.根据权利要求1所述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，其特征是：所述的谐波测试电路包括与耦合器(1304)连接的射频收发开关(1202)，耦合器(1202)分别连接高通带高通滤波器(1203)的输入端和高通带低通滤波器(1204)的输入端，高通带高通滤波器(1203)的输出端和高通带低通滤波器(1204)的输出端连接射频收发开关(1205)经放大器(1206)连接衰减器(1207)，衰减器(1207)通过射频收发开关(1311)连接PXI测试设备。

6.根据权利要求1所述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，其特征是：所述的功率测试通道包括分别连接被测设备的两个射频收发开关(1301，1302)，所述的射频收发开关(1301，1302)的输出端连接射频收发开关(1303)，射频收发开关(1303)的输出端连接耦合器(1305)，耦合器(1305)依次经过衰减器(1308)、频收发开关(1310)、频收发开关(1311)连接PXI测试设备。

7.根据权利要求6所述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，其特征是：所述的耦合器(1305)通过射频收发开关(1307)连接有阻抗为40Ω-70Ω的衰减器(1309)。

8.根据权利要求6所述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，其特征是：所述的衰减器(1308)的衰减量是3dB。

9.一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器测试方法，其特征是包括以下步骤：

a.双通道大功率测试：PXI信号源通过射频收发开关开关(1316)选择低通带和高通带的其中一个通道，在输出端用射频收发开关(1320)或(1321)选择测量两个被测功率放大器中的一个，经过功率放大器放大后的信号送入天线端，通过射频收发开关(1301、1302、1303)的选择进入两个耦合器(1304，1305)，耦合器(1304)用来获取谐波信号，耦合器(1305)用来获取所要测试的大功率信号，此信号经过耦合器10dB的衰减后再进行3dB衰减经过射频收发开关(1310)和射频收发开关(1311)送到PXI测试设备进行测量。射频收发开关(1307)需要连接到衰减器(1309)上，降低反射能量；

b.双通道谐波功率测试：PXI信号源通过射频收发开关(1316)选择低通带和高通带的其中一个通道，在输出端用射频收发开关(1320)或(1321)选择测量两个功率放大器中的一个，经过功率放大器放大后的信号送入天线端，通过射频收发开关(1301、1302，、1303)的选择进入耦合器(1304)，耦合器(1304)用来获取谐波信号，信号经过耦合器10dB的衰减后通过谐波信号处理电路后经过射频收发开关(1311)送到PXI测试设备进行测量；

c.双通道小功率测试：PXI信号源通过射频收发开关(1316)选择低通带和高通带的其中一个通道，在输出端用射频收发开关(1320)或(1321)选择测量两个功率放大器中的一个，经过功率放大器放大后的信号送入天线端，通过射频收发开关(1301、1302，、1303)的选择进入耦合器(1304)和(1305)而不进行衰减，信号经过射频收发开关(1307、1310、1311)送到PXI测试设备测量；

d.双通道天线插入损耗测试：PXI信号源通过两个射频收发开关(1316、1317)，选择四个RX中的一个通过射频收发开关(1312、1313、1314、1315)输出到功率放大器对应的TX端，经过功率放大器后利用功率接收通道送至PXI测试设备；

e.双通道收发隔离度测试：PXI信号源通过射频收发开关(1316)选择低通带和高通带的其中一个通道，在输出端用射频收发开关(1320)或射频收发开关(1321)选择测量两个功率放大器中的一个，经过功率放大器放大后的信号送入功率放大器的RX端，通过射频收发开关(1312、1313、1314、1315)的选择四个接收通道的任意一个，信号即反向传输信号经过射频收发开关(1310)和射频收发开关(1311)两个开关送到PXI测试设备测量，测得在TX端输入泄露到RX端的信号。