[发明专利]基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，特别是针对双频段/四频段(850/900MHz和1800/1900MHz)GSM标准功率放大器以及2GHz以下CDMA，WCDMA标准功率放大器的直流和射频指标的自动测试。

背景技术

PXI(PCI Extension For Instrumentation，简称PXI)作为第三代ATE的新兴代表将计算机PCI总线、Com功率放大器ct PCI(CPCI)完美地结合到测试仪器中。PXI发展飞速，一方面，GPIB和VXI的成功经验与失败教训为PXI的发展奠定了基础；另一方面，PXI也得益于二十年来PC工业的高速发展和大量技术、工艺的积累，尤其得益于在欧洲经受了长期工业考验的Com功率放大器ctPCI。

当今PC机的主流总线标准是PCI，因此PXI可直接得益于PC机主流工业现有的大量的软件和硬件资源。PC机的PCI数据传输优势(132MByte/s)、最新CPU的处理能力、图形显示的速度与分辨率以及熟悉易用的Windows软件，这一切都使PXI在各方面超过了大多数传统的专用仪器性能。

PXI定义了软件要求，从而进一步降低了系统集成难度，包括使用标准的操作系统构架，所有外围设备要求适当的配置信息和软件驱动器。显然，通过采用现有的台式PC软件技术获得的益处促进了PXI软件规范。PXI还要求所有外围模块具有在适合的构架中运行的设备驱动程序，这事实上要求了制造商而不是用户开发这些软件，缩短了用户的开发周期。

PXI在射频和微波频带以下的中高频段可以替代VXI而且价格优势明显，深受广大用户欢迎。PXI联盟在短短的两年之间已有60多家公司加入，这本身就说明了市场极高的认可程度。

目前，基于自动测试设备(ATE)测试RF电路的板卡功能强大而昂贵，射频功率放大器测试的参数只占RF电路参数的一部分，采用自己定制的功率放大器专用测试板卡可极大降低测试硬件板卡的费用而不损失功率放大器参数测试的精度。

发明内容

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，包括：PXI测试信号源、PXI测试设备、被测设备、输入测试部分和输出测试部分，所述的PXI测试信号源与输入测试部分输入端连接，输入测试部分的输出端和输出测试部分的输入端分别连接被测设备，输出测试部分的输出端连接PXI测试设备。

所述的输入测试部分包括高低通带测试通道和天线插损测试通道中的至少一种，所述的高低通带测试通道和天线插损测试通道并联，并由选通开关选择。

所述的输出测试部分包括收发隔离度测试通道、功率测试通道和谐波测试通道中的至少一种，所述的收发隔离度测试通道、功率测试通道和谐波测试通道相互并联，并由选通开关选择。

上述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，所述的选通开关是射频收发开关。

上述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，所述的高低通带测试电路包括，与PXI设备信号源连接的射频收发开关1316，射频收发开关1316分别连接有低通带低通滤波器1318和高通带低通滤波器1319，低通带低通滤波器1318通过低通带切换射频收发开关1320与被测设备连接，高通带低通滤波器1319通过高通带切换射频收发开关1321与被测设备连接。

上述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，所述的收发隔离度测试通道包括四个并联的射频收发开关1312，1313，1314，1315和与其连接的另一根射频收发开关1310，所述的射频收发开关1310通过下一个射频收发开关1311连接PXI测试设备。

上述的基于PXI测试设备的双通道射频功率放大器自动测试电路，所述的谐波测试电路包括与耦合器1304连接的射频收发开关1202，耦合器1202分别连接高通带高通滤波器1203的输入端和高通带低通滤波器1204的输入端，高通带高通滤波器1203的输出端和高通带低通滤波器1204的输出端连接射频收发开关1205经放大器1206连接衰减器1207，衰减器1207通过射频收发开关1311连接PXI测试设备。