[发明专利]一种测量铝电解质温度和初晶温度的装置及方法有效
| 申请号： | 201110445908.X | 申请日： | 2011-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN102494789A | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 高炳亮;王兆文;史冬;石忠宁;胡宪伟;于江玉 | 申请（专利权）人： | 东北大学 |
| 主分类号： | G01K1/08 | 分类号： | G01K1/08;G01K7/02;C25C3/20 |
| 代理公司： | 沈阳东大专利代理有限公司 21109 | 代理人： | 李在川 |
| 地址： | 110819 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种测量铝电解质温度和初晶温度的装置及方法，装置由探头Ⅰ和探头Ⅱ、分析仪器和升降装置构成，两个温度传感器与分析仪器装配在一起，两个保护套固定在升降装置上；温度传感器插入保护套管内的小孔中；方法为：两个探头插入到熔融电解质中，分析仪器记录两个探头的温度，建立温度-时间关系曲线；当温度都恒定不变时停止记录；建立温度差-温度曲线，温度差-温度曲线中停止记录时，该处对应的探头Ⅰ测得的温度为电解质温度；温度差-温度曲线中电解质温度前第一个峰值点处对应的探头Ⅰ测得的温度即为电解质的初晶温度。本发明的装置及方法具有测量结果准确，重复测量稳定，便于操作的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 电解质 温度 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量铝电解质温度和初晶温度的装置，其特征在于该装置由探头Ⅰ和探头Ⅱ、分析仪器和升降装置构成，每个探头由一个温度传感器和一个保护套管组成，两个温度传感器同时与一个分析仪器装配在一起，两个保护套管固定在一个升降装置上；每个探头中温度传感器的上部固定在保护套管内，温度传感器的末端插入保护套管内的空腔下部的小孔中。
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