[发明专利]无基线光环成像被动光学测距方法及装置无效
| 申请号： | 201110300605.9 | 申请日： | 2011-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN102353353A | 公开（公告）日： | 2012-02-15 |
| 发明（设计）人： | 吕彦飞;董渊;李述涛;金光勇;张喜和 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 陶尊新 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： |
无基线光环成像被动光学测距方法及装置属于无源被动光学测距技术领域。现有光环成像被动光学测距技术其不足在于当被测目标为陌生目标、测距方不掌握所观测到的被测目标上某两点间的距离时，无法实现测距。本发明之测距装置其特征在于在光环成像系统中采用变焦接物镜，变焦接物镜位于漏斗反射镜反射方。本发明之测距方法其特征在于，在测距点O的被测目标一侧与测距点O相距S处确定辅助测距点O′，调整望远系统再次瞄准被测目标，调整光环成像系统中的光棒、变焦接物镜，使所述A、B两点再次位于所述虚像光环直径的两个端点上，此时测距光环半径为r2，变焦接物镜的像方焦距为f2；测距点O到被测目标的距离D由公式 |
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| 搜索关键词： | 基线 光环 成像 被动 光学 测距 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种无基线光环成像被动光学测距装置，望远系统(1)与分光镜(2)位于一个水平光轴上，光环成像系统(3)位于过分光镜(2)、与所述水平光轴相交的垂直光轴上，其特征在于，在光环成像系统(3)中，光棒(4)、漏斗反射镜(5)、变焦接物镜(7)光学同轴，光棒(4)自漏斗反射镜(5)中孔穿过，变焦接物镜(7)位于漏斗反射镜(5)反射方。
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