[发明专利]无基线光环成像被动光学测距方法及装置无效

专利信息
申请号: 201110300605.9 申请日: 2011-10-08
公开(公告)号: CN102353353A 公开(公告)日: 2012-02-15
发明(设计)人: 吕彦飞;董渊;李述涛;金光勇;张喜和 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基线 光环 成像 被动 光学 测距 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种无基线光环成像被动光学测距装置,望远系统(1)与分光镜(2)位于一个水平光轴上,光环成像系统(3)位于过分光镜(2)、与所述水平光轴相交的垂直光轴上,其特征在于,在光环成像系统(3)中,光棒(4)、漏斗反射镜(5)、变焦接物镜(7)光学同轴,光棒(4)自漏斗反射镜(5)中孔穿过,变焦接物镜(7)位于漏斗反射镜(5)反射方。

2.一种无基线光环成像被动光学测距方法,属于一种光环成像被动光学测距方法,自测距点O经望远系统(1)瞄准被测目标,在被测目标上确定A、B两点;由光环成像系统(3)产生半径为r的测距光环,该测距光环成像于测距点O,并在被测目标方向无穷远处形成虚像光环;所述A、B两点位于所述虚像光环直径的两个端点上,此时测距光环半径为r1,变焦接物镜(7)的像方焦距为f1;其特征在于,在测距点O的被测目标一侧与测距点O相距S处确定辅助测距点O′,调整望远系统(1)再次瞄准被测目标,调整光环成像系统(3)中的光棒(4)、变焦接物镜(7),使所述A、B两点再次位于所述虚像光环直径的两个端点上,此时测距光环半径为r2,变焦接物镜(7)的像方焦距为f2;测距点O到被测目标的距离D由下式求得:

D=f1r2Sf1r2-f2r1.]]>

3.根据权利要求2所述的无基线光环成像被动光学测距方法,其特征在于,多次改变测距点O与辅助测距点O′的距离S,结合与该距离S对应的测距光环半径r、变焦接物镜(7)的像方焦距f,由所述公式计算出多个测距点O到被测目标的距离D,取其平均值作为最终测距点O到被测目标的距离。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春理工大学,未经长春理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110300605.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top