[发明专利]无基线光环成像被动光学测距方法及装置无效
| 申请号: | 201110300605.9 | 申请日: | 2011-10-08 |
| 公开(公告)号: | CN102353353A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
| 发明(设计)人: | 吕彦飞;董渊;李述涛;金光勇;张喜和 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
| 主分类号: | G01C3/00 | 分类号: | G01C3/00 |
| 代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
| 地址: | 130022 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基线 光环 成像 被动 光学 测距 方法 装置 | ||
1.一种无基线光环成像被动光学测距装置,望远系统(1)与分光镜(2)位于一个水平光轴上,光环成像系统(3)位于过分光镜(2)、与所述水平光轴相交的垂直光轴上,其特征在于,在光环成像系统(3)中,光棒(4)、漏斗反射镜(5)、变焦接物镜(7)光学同轴,光棒(4)自漏斗反射镜(5)中孔穿过,变焦接物镜(7)位于漏斗反射镜(5)反射方。
2.一种无基线光环成像被动光学测距方法,属于一种光环成像被动光学测距方法,自测距点O经望远系统(1)瞄准被测目标,在被测目标上确定A、B两点;由光环成像系统(3)产生半径为r的测距光环,该测距光环成像于测距点O,并在被测目标方向无穷远处形成虚像光环;所述A、B两点位于所述虚像光环直径的两个端点上,此时测距光环半径为r1,变焦接物镜(7)的像方焦距为f1;其特征在于,在测距点O的被测目标一侧与测距点O相距S处确定辅助测距点O′,调整望远系统(1)再次瞄准被测目标,调整光环成像系统(3)中的光棒(4)、变焦接物镜(7),使所述A、B两点再次位于所述虚像光环直径的两个端点上,此时测距光环半径为r2,变焦接物镜(7)的像方焦距为f2;测距点O到被测目标的距离D由下式求得:
3.根据权利要求2所述的无基线光环成像被动光学测距方法,其特征在于,多次改变测距点O与辅助测距点O′的距离S,结合与该距离S对应的测距光环半径r、变焦接物镜(7)的像方焦距f,由所述公式计算出多个测距点O到被测目标的距离D,取其平均值作为最终测距点O到被测目标的距离。
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