[发明专利]沟槽式功率金氧半场效晶体管的制作方法有效
申请号: | 201110269126.5 | 申请日: | 2011-09-13 |
公开(公告)号: | CN103000521A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 张渊舜;蔡依芸;涂高维;许修文 | 申请(专利权)人: | 帅群微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 姚垚;项荣 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种沟槽式功率金氧半场效晶体管的制造方法,首先,形成一图案层于一基材上;然后,透过此图案层蚀刻基材,以形成栅极沟槽于基材内;接下来,以氧化方式形成一第一氧化层于栅极沟槽内,以扩大栅极沟槽的宽度;在移除第一氧化层后,形成一栅极氧化层于栅极沟槽的内侧表面;随后,透过图案层蚀刻栅极沟槽的底部,以形成一开口贯穿栅极氧化层;然后,形成一厚氧化层于此开口内;接下来,以离子注入方式形成二个第一重掺杂区于厚氧化层的两侧,以防止环绕本体区扩散至栅极沟槽的底部。本发明可以增加栅极与漏极间的绝缘层的厚度,以降低栅极对漏极的电容,改善切换损失。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 功率 半场 晶体管 制作方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽式功率金氧半场效晶体管的制造方法,其特征在于,至少包括下列步骤:形成一图案层于一基材上,该图案层具有一第一开口以定义一栅极沟槽于该基材内;透过该图案层蚀刻该基材,以形成该栅极沟槽;以氧化方式形成一第一氧化层于该栅极沟槽内,该第一氧化层至少覆盖该栅极沟槽的侧壁;移除该第一氧化层,以扩大该栅极沟槽的宽度;形成一栅极氧化层于该栅极沟槽的内侧表面;以非等向性蚀刻技术透过该图案层蚀刻该栅极沟槽的底部,以形成一第二开口裸露该基材;形成一厚氧化层于该第二开口内;以及以离子注入方式,形成二个第一重掺杂区于该厚氧化层的两侧,以防止环绕该栅极沟槽的一本体区扩散至该栅极沟槽的底部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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