[发明专利]用于检测差异的方法和设备无效

专利信息
申请号: 201110259672.0 申请日: 2011-08-31
公开(公告)号: CN102385708A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 安藤秀树 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G06K9/64 分类号: G06K9/64;H04N13/00
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 宋鹤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了用于检测差异的方法和设备。一种用于检测差异的设备被描述。该设备检测在拍摄同一场景的第一和第二图像中的相应像素位置之间的差异,所述第一和第二图像可被视为使用平行镜头布置拍摄的立体图像,所述设备包括:确定器,可操作用于确定跨越所述第一图像的一部分的图像属性的多个变化点的像素位置,以及确定跨越所述第二图像的相应部分的所述图像属性的多个变化点的像素位置;比较器,可操作用于将所述第一图像中的所述变化点之一的位置与所述第二图像的所述多个变化点的位置的子集相比较,其中所述子集是根据所述第二图像中的所述变化点的像素位置相对于所述第一图像中的所述变化点之一的像素位置来确定的;其中,所述确定器可操作用于确定像素位置与所述第一图像中的所述变化点相邻的像素和与在所述子集中的每个变化点相邻的相应像素之间的相似性;以及获取器,可操作用于根据所确定的像素的相似性来获得所述差异。
搜索关键词: 用于 检测 差异 方法 设备
【主权项】:
一种检测在拍摄同一场景的第一和第二图像中的相应像素位置之间的差异的方法,所述第一和第二图像可被视为使用平行镜头布置拍摄的立体图像,所述方法包括以下步骤:确定跨越所述第一图像的一部分的图像属性的多个变化点的像素位置;确定跨越所述第二图像的相应部分的所述图像属性的多个变化点的像素位置;将所述第一图像中的所述变化点之一的位置与所述第二图像的所述多个变化点的位置的子集相比较,其中所述子集是根据所述第二图像中的所述变化点的像素位置相对于所述第一图像中的所述变化点之一的像素位置来确定的;确定像素位置与所述第一图像中的所述变化点相邻的像素和与在所述子集中的每个变化点相邻的相应像素之间的相似性;以及根据所确定的像素的相似性来获得所述差异。
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