[发明专利]用于检测差异的方法和设备无效

专利信息
申请号: 201110259672.0 申请日: 2011-08-31
公开(公告)号: CN102385708A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 安藤秀树 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G06K9/64 分类号: G06K9/64;H04N13/00
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 宋鹤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 差异 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种检测在拍摄同一场景的第一和第二图像中的相应像素位置之间的差异的方法,所述第一和第二图像可被视为使用平行镜头布置拍摄的立体图像,所述方法包括以下步骤:

确定跨越所述第一图像的一部分的图像属性的多个变化点的像素位置;

确定跨越所述第二图像的相应部分的所述图像属性的多个变化点的像素位置;

将所述第一图像中的所述变化点之一的位置与所述第二图像的所述多个变化点的位置的子集相比较,其中所述子集是根据所述第二图像中的所述变化点的像素位置相对于所述第一图像中的所述变化点之一的像素位置来确定的;

确定像素位置与所述第一图像中的所述变化点相邻的像素和与在所述子集中的每个变化点相邻的相应像素之间的相似性;以及

根据所确定的像素的相似性来获得所述差异。

2.如权利要求1所述的方法,其中,所述子集被确定为在所述第一图像中的所述变化点之一的预定数目的像素之内。

3.如权利要求2所述的方法,其中,所述预定数目的像素是根据所拍摄的场景的深度预算来确定的。

4.如权利要求1所述的方法,包括:定义在所述第一图像中的所述一个变化点与所述第一图像中的相邻的第二变化点之间的不遮挡分段,其中与所述一个变化点相邻的像素和与所述第二变化点相邻的像素与在所述子集中、与在阈值以上的相应变化点相邻的像素具有相似性;并且,将根据预定标准与所述不遮挡分段相邻的分段定义为部分遮挡的部分。

5.如权利要求4所述的方法,包括:确定在所述第一图像中的、所述部分遮挡的部分中的像素与在所述第二图像中的、在相对所述第一图像中的所述部分遮挡的部分中的像素被水平位移的像素位置上的像素之间的图像属性的相似性;

确定所述部分遮挡的部分的各个末端,作为与具有大于阈值的相似性的、定义所述部分遮挡的部分的各个变化点最靠近的像素。

6.如权利要求5所述的方法,包括:定义在所述部分遮挡的部分的各个末端处的像素之间的直线,其中在所述部分遮挡的部分的任意像素位置上的差异是根据所定义的直线来确定的。

7.一种包含计算机可读指令的计算机程序,所述计算机可读指令在被加载到计算机上时,将所述计算机配置为执行如权利要求1所述的方法。

8.一种存储介质,被配置为存储如权利要求7所述计算机程序。

9.一种用于检测在拍摄同一场景的第一和第二图像中的相应像素位置之间的差异的设备,所述第一和第二图像可被视为使用平行镜头布置拍摄的立体图像,所述设备包括:

确定器,可操作用于确定跨越所述第一图像的一部分的图像属性的多个变化点的像素位置,以及确定跨越所述第二图像的相应部分的所述图像属性的多个变化点的像素位置;

比较器,可操作用于将所述第一图像中的所述变化点之一的位置与所述第二图像的所述多个变化点的位置的子集相比较,其中所述子集是根据所述第二图像中的所述变化点的像素位置相对于所述第一图像中的所述变化点之一的像素位置来确定的;

其中,所述确定器可操作用于确定像素位置与所述第一图像中的所述变化点相邻的像素和与在所述子集中的每个变化点相邻的相应像素之间的相似性;以及

获取器,可操作用于根据所确定的像素的相似性来获得所述差异。

10.如权利要求9所述的设备,其中,所述子集被确定为在所述第一图像中的所述变化点之一的预定数目的像素之内。

11.如权利要求10所述的设备,其中,所述预定数目的像素是根据所拍摄的场景的深度预算来确定的。

12.如权利要求9所述的设备,包括:定义器,可操作用于定义在所述第一图像中的所述一个变化点与所述第一图像中的相邻的第二变化点之间的不遮挡分段,其中与所述一个变化点相邻的像素和与所述第二变化点相邻的像素与在所述子集中、与在阈值以上的相应变化点相邻的像素具有相似性;并且,

用于将根据预定标准与所述不遮挡分段相邻的分段定义为部分遮挡的部分。

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