[发明专利]设备缺陷的分析方法与装置

摘要

本发明提供了一种设备缺陷的分析方法与装置，该方法包括：获得采样时间段内设备的运行时间和采样时间段内每种等级的设备缺陷发生的次数；根据每种等级的设备缺陷发生的次数与预设的每种等级的设备缺陷对应的权重值，获取每种等级的设备缺陷发生的次数与该等级的设备缺陷对应的权重值之间的乘积值，该乘积值作为该等级的设备缺陷发生的次数的有效值；将每种等级的设备缺陷发生的次数的有效值相加，得到所有等级的设备缺陷发生的次数的有效值的和值；获得所有等级的设备缺陷发生的次数的有效值的和值与采样时间段内设备的运行时间之间的商值，该商值为设备的缺陷率。采用本发明的技术方案，有助于显著提高设备运行的风险预控水平。

主权项

一种设备缺陷的分析方法，其特征在于，包括：步骤A：获得采样时间段内设备的运行时间和所述采样时间段内每种等级的设备缺陷发生的次数；步骤B：根据所述每种等级的设备缺陷发生的次数与预设的所述每种等级的设备缺陷对应的权重值，获取所述每种等级的设备缺陷发生的次数与该等级的设备缺陷对应的权重值之间的乘积值，该乘积值作为该等级的设备缺陷发生的次数的有效值；步骤C：将每种等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值相加，得到所有等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值的和值；步骤D：获得所有等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值的和值与所述采样时间段内设备的运行时间之间的商值，该商值为所述设备的缺陷率。