[发明专利]设备缺陷的分析方法与装置

权利要求书

1.一种设备缺陷的分析方法，其特征在于，包括：

步骤A：获得采样时间段内设备的运行时间和所述采样时间段内每种等级的设备缺陷发生的次数；

步骤B：根据所述每种等级的设备缺陷发生的次数与预设的所述每种等级的设备缺陷对应的权重值，获取所述每种等级的设备缺陷发生的次数与该等级的设备缺陷对应的权重值之间的乘积值，该乘积值作为该等级的设备缺陷发生的次数的有效值；

步骤C：将每种等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值相加，得到所有等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值的和值；

步骤D：获得所有等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值的和值与所述采样时间段内设备的运行时间之间的商值，该商值为所述设备的缺陷率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤A之前还包括：根据所述每种设备缺陷对设备运行的影响程度，确定采样时间段内每种设备缺陷所对应的等级。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述设备缺陷所对应的等级包括：危急缺陷、严重缺陷和一般缺陷。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

所述危急缺陷的权重值为：大于1.8，且不大于2.5；

所述严重缺陷的权重值为：大于1.0，且不大于1.8；

所述一般缺陷的权重值为：1.0。

5.一种设备缺陷的分析装置，其特征在于，包括：

数据获取模块，用于获得采样时间段内设备的运行时间和所述采样时间段内每种等级的设备缺陷发生的次数；

设备缺陷发生的次数的有效值计算模块，用于根据所述每种等级的设备缺陷发生的次数与预设的所述每种等级的设备缺陷对应的权重值，获取所述每种等级的设备缺陷发生的次数与该等级的设备缺陷对应的权重值之间的乘积值，该乘积值作为该等级的设备缺陷发生的次数的有效值；

设备缺陷发生的次数的有效值的和值计算模块，用于将每种等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值相加，得到所有等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值的和值；

缺陷率运算模块，用于获得所有等级的所述设备缺陷发生的次数的有效值的和值与所述采样时间段内设备的运行时间之间的商值，该商值为所述设备的缺陷率。

6.根据权利要求5所述的设备缺陷的分析装置，其特征在于，所述设备缺陷的分析装置还包括：缺陷等级确定模块，用于根据所述每种设备缺陷对设备运行的影响程度，确定采样时间段内每种设备缺陷所对应的等级。

7.根据权利要求6所述的设备缺陷的分析装置，其特征在于，所述设备缺陷所对应的等级包括：危急缺陷、严重缺陷和一般缺陷。

8.根据权利要求7所述的设备缺陷的分析装置，其特征在于，

所述危急缺陷的权重值为：大于1.8，且不大于2.5；

所述严重缺陷的权重值为：大于1.0，且不大于1.8；

所述一般缺陷的权重值为：1.0。