[发明专利]微粒测定装置有效
| 申请号： | 201110199688.7 | 申请日： | 2011-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN102346145A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 外石满;濑尾胜弘;高崎浩司;山田晋司;福本敦 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/65;G01N21/15 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种微粒测定装置。该微粒测定装置包括滤光器，该滤光器被分成多个区域且设置在光路上，在该光路上从用光照射的微粒发出的光被引导至光检测器。在该微粒测定装置中，该滤光器包括：具有波长选择性的第一区域，该第一区域通过波长选择性来阻断来自微粒的反射光及不需要的散射光分量并且透射荧光；以及第二区域，至少设置在该第一区域周围且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种微粒测定装置，包括：滤光器，被分割成多个区域，且被设置在用光照射微粒而从所述微粒发出的光被引导至光检测器的光路上；其中，所述滤光器包括：具有波长选择性的第一区域，所述第一区域通过所述波长选择性来阻断来自微粒的反射光和不需要的散射光分量并且透射荧光，以及第二区域，设置在至少所述第一区域的周围并且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼公司，未经索尼公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110199688.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
