[发明专利]微粒测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及微粒测定装置。具体地，本发明涉及光学分析微粒的特性的微粒分析装置。

背景技术

已经使用了这样的微粒测定装置，其将光照射至在形成于流动池中或形成于微芯片上的流动路径中流动的微粒，以检测来自微粒的散射光或从微粒或从标记于微粒上的荧光物质发射的荧光以及测定微粒的光学特性。

国际公开第WO2005/103642号公开了一种样品识别装置，其包括被检测光接收光纤，从而以较高灵敏度测定特性。此装置测定从样品发射的后向散射光的接收光量的波动，能够检测样品的状态(透射率、吸收率等)。

发明内容

在现有技术的微粒检测装置中，为了获得最佳散射角，需要在检测荧光和散射光的光学检测系统中设置遮板。该遮板阻断反射光以防止反射光分量进入散射光电子倍增管或荧光电子倍增管中。然而，需要的光分量，诸如荧光，也不必要地被该遮板所阻断，因此不利地降低了需要的光分量的灵敏度。这里，现有技术中已使用的遮板在下文中被称为“普通(现有技术)遮板”。

期望提供一种高效地获得需要的光分量(特别地，后向散射光和荧光)的微粒分析装置。

根据本发明的实施方式，提供了一种微粒测定装置，包括滤光器，被分成多个区域且设置在用光照射微粒而从该微粒发出的光被引导至光检测器的光路上。在该微粒测定装置中，该滤光器包括：具有波长选择性的第一区域，该第一区域通过该波长选择性来阻断来自微粒的反射光及不需要的散射光分量并且透射荧光；以及第二区域，设置在至少第一区域周围且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。

因此，可切断来自微粒的反射光和不需要的散射光分量，并且作为需要的光分量之一的荧光可通过该第一区域透射。此外，荧光和需要的散射光分量(例如，后向散射光)可通过该第二区域透射。

在本发明的实施方式中，具有波长选择性的第一区域优选设置在不具有波长选择性的第二区域的穿透部分中。

在本发明的实施方式中，较佳的是支撑第一区域的框架设置于具有波长选择性的第一区域的外周上，且不具有波长选择性的第二区域为中空的。

因此，可减少第一区域和第二区域在它们的界面上的折射率的差异。

在本发明的实施方式中，优选的是该滤光器还包括在第二区域周围具有波长选择性的第三区域，该第二区域设置在具有波长选择性的第一区域周围且不具有波长选择性。光束系统的中心可被第一区域切断，此外，该光束系统的外部可根据需要被第三区域切断。因此，可获得来自期望的角度的后向散射光。

在本发明的实施方式中，优选的是将荧光和后向散射光引导至荧光和后向散射光检测器的光纤被设置在光路上并且设置了被分成多个区域的滤光器，使得透过该滤光器的光被该光纤所接收。因此，可以以高灵敏度检测后向散射光和荧光。

根据本发明的实施方式，提供了高效地获得后向散射光和荧光的微粒分析装置。

附图说明

图1示出了根据本发明的实施方式的微粒分析装置的光路；

图2A和图2B示出了在根据本发明实施方式的具有滤光器的微粒分析装置中，从被激光束照射的微粒发出的反射光、后向散射光和荧光；

图3示出了对根据本发明实施方式的微粒分析装置设置的滤光器的第一区域的透射光谱；

图4A至图4D示出了对根据本发明实施方式的微粒分析装置设置的滤光器(上表面方向)的实例，图4A示出了第一区域具有圆形形状的情况，图4B示出了第一区域具有方形形状的情况，图4C示出了第一区域至第三区域均具有圆形形状的情况，而图4D示出了第一区域至第三区域均具有方形形状的情况；

图5A至图5C示出了对根据本发明实施方式的微粒分析装置设置的滤光器的水平方向上的截面的实例，图5A示出了第一区域的(平面)滤波器的下部接合在第二区域的(平面)滤波器的上部上的情况，图5B示出了第一区域的(平面)滤波器设置在第二区域的(平面)滤波器的穿透部分中且第一区域的(平面)滤波器的上表面比第二区域的(平面)滤波器的上表面更突出的情况，以及图5C示出了第一区域设置在第二区域的(平面)滤波器的穿透部分中且第一区域和第二区域的上表面和下表面齐平的情况；

图6示出了对根据本发明的实施方式的微粒分析装置设置的滤光器，并示出第一区域的(平面)滤波器由圆柱框架支撑且第二区域为中空的情况；

图7A和图7B示出了根据本发明的变形例的滤光器(反射型滤光器)的实例，图7A示出了当使用反射型滤光器时反射光、后向散射光和荧光的流路径，而图7B示出了本发明的变形例的反射型滤光器的第一区域的透射光谱；