[发明专利]微粒测定装置

权利要求书

1.一种微粒测定装置，包括：

滤光器，被分割成多个区域，且被设置在用光照射微粒而从所述微粒发出的光被引导至光检测器的光路上；其中，

所述滤光器包括：

具有波长选择性的第一区域，所述第一区域通过所述波长选择性来阻断来自微粒的反射光和不需要的散射光分量并且透射荧光，以及

第二区域，设置在至少所述第一区域的周围并且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。

2.根据权利要求1所述的微粒测定装置，其中，具有所述波长选择性的第一区域设置在不具有波长选择性的第二区域的穿透部分中。

3.根据权利要求1所述的微粒测定装置，其中，支撑所述第一区域的框架设置在具有波长选择性的所述第一区域的外周上，并且不具有波长选择性的所述第二区域为中空的。

4.根据权利要求1所述的微粒测定装置，其中，所述滤光器还包括具有波长选择性、并且设置在所述第二区域的周围的第三区域，所述第二区域被设置在具有波长选择性的所述第一区域的周围且不具有波长选择性。

5.根据权利要求1所述的微粒测定装置，还包括：

光纤，将荧光及后向散射光引导至荧光和后向散射光检测器，且被设置在所述光路上；其中

分割成所述多个区域的所述滤光器被设置成使得透过所述滤光器的光由所述光纤所接收。