[发明专利]将单晶硅薄片用强脉冲离子束改性为LED衬底的碳化硅材料的方法无效

专利信息
申请号: 201110176320.9 申请日: 2011-06-28
公开(公告)号: CN102285655A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 高志洪 申请(专利权)人: 高志洪
主分类号: C01B31/36 分类号: C01B31/36
代理公司: 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 代理人: 杨建新
地址: 514500 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种将单晶硅薄片用强脉冲离子束改性为LED衬底的碳化硅材料的方法,首先将单晶硅加工成薄片状置于强脉冲离子束靶座前;采用石墨作为注入用离子源发射体,抽真空后通入适当氩气,将真空系统档板遮蔽单晶硅薄片,启动强脉冲离子束,再关闭氩气,移开挡板后开启真空系统机械扫描系统,用强脉冲离子束对单晶硅薄片正反二面注入C+,再开启红外加热器高温800℃,待真空系统冷却到接近室温后通入氮气,开炉取出离子束改性形成的碳化硅晶体,最后包装入库。本发明方法构思巧妙,成本低廉且操作方便,利用该方法所得的碳化硅材料表面显得特别平整光滑,完全没有机械切、磨、抛加工的损伤痕迹,表面起伏<1µm,表面粗糙度≦0.1µm;Sic晶格质量优异,不吸收可见光,更加适于大功率白光LED衬底材料,适合普遍推广使用。
搜索关键词: 单晶硅 薄片 脉冲 离子束 改性 led 衬底 碳化硅 材料 方法
【主权项】:
将单晶硅薄片用强脉冲离子束改性为LED衬底的碳化硅材料的方法,其特征在于:所述的方法包括以下步骤:(a)、将单晶硅(Si)加工成薄片状,并置于真空系统的强脉冲离子束靶座前;(b)、采用石墨(C)作为注入用离子源发射体,置于强脉冲离子束的相应位置,清洁处理真空系统中的所有零部件;(c)、检查真空系统的加热系统、检测系统、冷却系统、电源系统、水路、油路、气路、磁路和电路是否正常畅道;(d)、启动真空系统,预抽真空使真空度达8x10‑4Pa以上,通入适当氩气 ;(e)、将真空系统档板遮蔽单晶硅(Si)薄片,启动强脉冲离子束,将含有氧化物和附吸杂质的第一个脉冲轰击在挡板上,以清洗石墨离子源发射体和挡板;(f)、关闭氩气,移开挡板,开启真空系统机械扫描系统,用强脉冲离子束对单晶硅薄片正反二面注入C+;(g)、完成强脉冲离子束注入任务后,开启真空系统大功率红外加热器,用800℃的高温退火以消除辐射损伤和残余应力;(h)、待真空系统自然冷却到接近室温后,通入氮气,开炉取出离子束改性形成的碳化硅晶体;(i)、检测碳化硅晶体的性能指标和表面状态,包装入库。
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