[发明专利]嵌入式晶圆级接合方法有效
| 申请号: | 201110166151.0 | 申请日: | 2011-06-15 |
| 公开(公告)号: | CN102347251A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
| 发明(设计)人: | 余振华;林俊成 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/50 |
| 代理公司: | 北京市德恒律师事务所 11306 | 代理人: | 陆鑫;高雪琴 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 一种方法包括:提供载体,该载体上设置有粘结层;以及提供管芯,该管芯包括第一表面、相对于第一表面的第二表面。管芯进一步包括邻近第二表面的多个接合焊盘;以及多个接合焊盘上方的介电层。该方法进一步包括:将管芯置于粘结层上,使得第一表面面向粘结层,介电层背向粘结层;形成模塑料以覆盖管芯,其中模塑料包围管芯;将处于管芯正上方的模塑料移除,以暴露出介电层;以及在模塑料上面形成再分布线,并且该再分布线穿过介电层电连接到的多个接合焊盘。 | ||
| 搜索关键词: | 嵌入式 晶圆级 接合 方法 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:提供载体,在所述载体上设置有粘结层;提供管芯,所述管芯包括:衬底;多个接合焊盘,位于所述衬底上方;以及介电层,位于所述多个接合焊盘上方;将所述管芯置于所述粘结层上;形成模塑料以覆盖所述管芯,其中,所述模塑料包围所述管芯;移除所述模塑料的所述管芯正上方的部分,以暴露所述介电层;以及在所述介电层上面形成再分布线,所述再分布线与所述多个接合焊盘中的至少一个电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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