[发明专利]嵌入式晶圆级接合方法有效

专利信息
申请号: 201110166151.0 申请日: 2011-06-15
公开(公告)号: CN102347251A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 余振华;林俊成 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/50
代理公司: 北京市德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;高雪琴
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 嵌入式 晶圆级 接合 方法
【权利要求书】:

1.一种方法,包括:

提供载体,在所述载体上设置有粘结层;

提供管芯,所述管芯包括:衬底;多个接合焊盘,位于所述衬底上方;以及介电层,位于所述多个接合焊盘上方;

将所述管芯置于所述粘结层上;

形成模塑料以覆盖所述管芯,其中,所述模塑料包围所述管芯;

移除所述模塑料的所述管芯正上方的部分,以暴露所述介电层;以及

在所述介电层上面形成再分布线,所述再分布线与所述多个接合焊盘中的至少一个电连接。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,在将所述管芯置于所述粘结层上的步骤之前,所述管芯进一步包括:金属支柱,所述金属支柱形成在所述介电层中,并且与所述多个接合焊盘电连接。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,在形成再分布线的步骤期间,所述金属支柱用作对准标记。

4.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:在移除所述模塑料的所述部分的步骤之后,形成穿透所述介电层的金属支柱,所述金属支柱与所述多个接合焊盘电连接。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,移除所述模塑料的所述部分的步骤包括:在所述模塑料上实施化学机械抛光(CMP)。

6.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:在形成再分布线的步骤之后,在所述再分布线的上方形成金属凸块,所述金属凸块与所述再分布线电连接。

7.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:卸下所述载体。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述介电层的厚度大于大约10μm。

9.一种方法,包括:

提供载体,在所述载体上设置有粘结层;

提供多个管芯,所述多个管芯中的每个管芯都包括:

衬底;

多个接合焊盘,位于所述衬底上方;

介电层,位于所述多个接合焊盘上方;以及

多个金属支柱,位于所述介电层中,并与所述多个接合焊盘电连接;

将所述多个管芯置于所述粘结层上,所述多个管芯中的每个管芯的衬底的底面面向所述粘结层;

将模塑料填入所述多个管芯之间,其中,所述模塑料覆盖所述多个管芯中的每个管芯的介电层;

对所述模塑料实施平坦化,直到暴露所述多个金属支柱;以及

在所述多个金属支柱上方形成再分布线,所述再分布线与所述多个金属支柱电连接。

10.一种方法,包括:

提供载体,在所述载体上设置有粘结层;

提供多个管芯,所述多个管芯中的每个管芯都包括:

衬底;

多个接合焊盘,位于所述衬底上方;以及

介电层,位于所述多个接合焊盘上方;

将所述多个管芯置于所述粘结层上,所述多个管芯中的每个管芯的衬底的底面面向所述粘结层;

将模塑料填入所述多个管芯之间,其中,所述模塑料覆盖所述多个管芯中的每个管芯的介电层;

对所述模塑料实施平坦化,直到暴露所述介电层;

蚀刻所述介电层的暴露部分,以形成多个开口,从而暴露所述多个接合焊盘;以及

在所述多个开口中形成多个导电支柱。

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