[发明专利]一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法有效
| 申请号： | 201110138342.6 | 申请日： | 2011-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN102798816A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 董艺;周军;刘剑海 | 申请（专利权）人： | 上海复旦微电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 张妍 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，先清空阵列，然后初始化X方向地址，在给定的约束条件下，由X方向地址计算出Y方向地址，并计算出所要写入的数据，最后在X方向地址和步骤103得到的Y方向地址所决定的地址中，写入得到的数据，遍历X方向地址并重复以上操作。本发明用于检测存储器内的译码电路是否正常，具有普遍性，不同的存储器都可以用该方法来生成用于检测译码电路的测试图形，还可使译码电路测试图形和其他的测试图形相互兼容，省去写入2种测试图形之间的阵列清空操作，节省测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 存储器 译码 电路 测试 图形 生成 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，其特征在于，该方法包含以下步骤：步骤101、清空阵列；步骤102、初始化X方向地址；即将X方向地址设置成首地址；步骤103、在给定的约束条件下，由X方向地址计算出Y方向地址；步骤104、在给定的约束条件下，由X方向地址计算出所要写入的数据；步骤105、在X方向地址和步骤103得到的Y方向地址所决定的地址中，写入步骤104得到的数据；步骤106、判断X方向的地址是否是最后一个，若是，执行步骤108，若否，执行步骤107；步骤107、X方向地址加1，执行步骤103；步骤108、结束。
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