[发明专利]一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法

权利要求书

1.一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，其特征在于，该方法包含以下步骤：

步骤101、清空阵列；

步骤102、初始化X方向地址；

即将X方向地址设置成首地址；

步骤103、在给定的约束条件下，由X方向地址计算出Y方向地址；

步骤104、在给定的约束条件下，由X方向地址计算出所要写入的数据；

步骤105、在X方向地址和步骤103得到的Y方向地址所决定的地址中，写入步骤104得到的数据；

步骤106、判断X方向的地址是否是最后一个，若是，执行步骤108，若否，执行步骤107；

步骤107、X方向地址加1，执行步骤103；

步骤108、结束。

2.如权利要求1所述的用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，其特征在于，所述的约束条件能保证最终产生的数据测试图形能被另一种其他的数据测试图形所兼容，也就是说，本方法产生的需要被编程的点，在另一种其他的数据测试图形中也一定是被编程的。

3.如权利要求1所述的用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，其特征在于，用本方法产生的数据测试图形，每条位线上有且只有一个点会被编程。