[发明专利]一种SoC芯片的空闲状态测试方法、系统及测试装置有效
| 申请号： | 201110090778.2 | 申请日： | 2011-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN102736013A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 王恒军;胡胜发 | 申请（专利权）人： | 安凯(广州）微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 510663 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明适用于嵌入式技术领域，提供了一种SoC芯片的空闲状态测试方法、系统及测试装置，所述方法包括：A、进行SoC芯片的上电复位，当SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；B、计算测试用例的标识号，该测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；C、判断测试用例的标识号是否为空字符，是则退出SoC芯片的测试，否则获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，并跳转至步骤A。本发明实现了对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例的批量测试，提高了测试系统的测试效率，减少了数据的处理量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 soc 芯片 空闲 状态 测试 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
一种SoC芯片的空闲状态测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：A、进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；B、根据所述标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为所述SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；C、判断所述测试用例的标识号是否为空字符，是则退出所述SoC芯片的测试，否则根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设位置，并跳转至步骤A。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安凯(广州）微电子技术有限公司，未经安凯(广州）微电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110090778.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
