[发明专利]一种SoC芯片的空闲状态测试方法、系统及测试装置

权利要求书

1.一种SoC芯片的空闲状态测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

A、进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；

B、根据所述标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为所述SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；

C、判断所述测试用例的标识号是否为空字符，是则退出所述SoC芯片的测试，否则根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设位置，并跳转至步骤A。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之前，所述方法还包括下述步骤：

对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之前，所述方法还包括下述步骤：

建立并存储测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤B具体为：

对步骤A中获取的标识号进行加1运算，将运算结果作为测试用例的标识号，所述测试用例为所述SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例。

5.一种SoC芯片的空闲状态测试系统，其特征在于，所述系统包括：

标识号获取单元，用于进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；

标识号计算单元，用于根据所述标识号获取单元获取的标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；

标识号判断单元，用于判断所述标识号计算单元计算得到的测试用例的标识号是否为空字符；

退出单元，用于当测试用例的标识号为空字符时，退出SoC芯片的测试；以及

测试单元，用于当测试用例的标识号不为空字符时，根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

测试用例编译单元，用于对待测试的测试用例进行编译，将编译后的测试用例保存到预先设置的随机存取存储器。

7.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

对应关系建立单元，用于建立并存储测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系。

8.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

标识号计算子单元，用于对所述标识号获取单元获取的标识号进行加1运算，将运算结果作为测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例。

9.一种SoC测试装置，其特征在于，所述SoC测试装置包括权利要求5至8任一项所述的SoC芯片的空闲状态测试系统。