[发明专利]一种SoC芯片的空闲状态测试方法、系统及测试装置

说明书

技术领域

本发明属于嵌入式技术领域，尤其涉及一种SoC芯片的空闲状态测试方法、系统及测试装置。

背景技术

系统级芯片(SoC，System-on-Chip)是一个有专用目标的集成电路，可以是一完整的系统，例如微处理器ARM、知识产权核(IP核)和存储器。同时SoC芯片也是一种技术的统称，用以实现从确定系统功能开始，到软/硬件划分，并完成设计的整个过程。

目前，SoC芯片已经广泛地应用于各种各样的手持设备中，例如数码相机、智能手机等，这就要求SoC芯片具备低功耗的特性，为了降低SoC芯片的功耗，较为有效的方法是关闭SoC芯片中暂时不用的模块的电源，使得SoC芯片进入到空闲(idle)状态，当SoC芯片处于空闲状态时，除了时钟(RTC)、电源管理模块(PMU)、内部随机存取存储器(RAM)和外部RAM外，其它模块则可以进行断电处理，其中内部RAM用来存储断电前芯片的配置，断电的模块重新工作时用来恢复其配置，外部RAM用来保存程序和数据。SoC芯片可以通过软件的方式进入idle状态，也可以通过软件/硬件/定时的方式退出idle状态，一种进入方式和一种退出方式为一种组合，每种组合情况都需要进行测试验证。

在SoC芯片设计中，测试验证是SoC芯片设计流程中最复杂、最耗时的环节，大约占用了整个芯片开发周期的一半以上，采用先进的设计与测试方法成为SoC芯片设计成功的关键。为了测试SoC芯片进入/退出idle状态方法的可靠性，现有的测试方法在进行SoC芯片的进入/退出idle状态的测试时，一次只能对一个测试用例进行测试，当需要测试的SoC芯片的进入/退出idle状态的测试用例较多时，测试系统需要较多的时间开销进行测试用例的编译，且在测试过程中，需要处理多个不同的仿真波形文件，降低了测试系统的测试效率。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种SoC芯片的空闲状态测试方法、系统及测试装置，旨在解决由于现有测试方法无法进行多个测试用例的持续测试，导致测试系统处理数据增加，测试系统的测试效率降低的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种SoC芯片的空闲状态测试方法，所述方法包括下述步骤：

A、进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；

B、根据所述标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为所述SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；

C、判断所述测试用例的标识号是否为空字符，是则退出所述SoC芯片的测试，否则根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置，并跳转至步骤A。

本发明实施例的另一目的在于提供一种SoC芯片的空闲状态测试系统，所述系统包括：

标识号获取单元，用于进行SoC芯片的上电复位，当所述SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号；

标识号计算单元，用于根据所述标识号获取单元获取的标识号计算测试用例的标识号，所述测试用例为SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例；

标识号判断单元，用于判断所述标识号计算单元计算得到的测试用例的标识号是否为空字符；

退出单元，用于当测试用例的标识号为空字符时，退出SoC芯片的测试；以及

测试单元，用于当测试用例的标识号不为空字符时，根据所述测试用例的标识号与所述测试用例的对应关系获取所述测试用例的地址，执行所述测试用例，测试完成后将所述测试用例的标识号写入所述预设的随机存取存储器中的预设的位置。

本发明实施例的另一目的在于提供一种包括上述SoC芯片的空闲状态测试系统的SoC测试装置。

本发明实施例在对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例进行测试时，通过SoC芯片上电复位后，从预设的随机存取存储器中的预设位置获取一标识号，根据该标识号计算测试用例的标识号，判断测试用例的标识号是否为空字符，是则退出SoC芯片的测试，否则根据测试用例的标识号与测试用例的对应关系获取测试用例的地址，执行测试用例，测试完成后将测试用例的标识号写入预设的随机存取存储器中的预设的位置，循环执行直至测试用例全部被测试，从而实现对SoC芯片进入/退出空闲状态的测试用例的批量测试，提高测试系统的测试效率，减少了数据的处理量。

附图说明