[发明专利]多级测试响应压缩器有效
| 申请号： | 201110008107.7 | 申请日： | 2007-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN102129031A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | G·姆鲁加尔斯基;J·拉斯基;J·特伊泽;W-T·程;N·玛克赫吉;M·卡萨布 | 申请（专利权）人： | 明导公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在此公开了一种称为“X-Press”测试响应压缩器的示例性实施方式。所公开压缩器的某些实施方式包括过载部分以及扫描链选择逻辑。所公开技术的某些实施方式提供1000x数量级的压缩比。所公开压缩器的示例性实施方式可以维持与传统的基于扫描的测试情况大致相同的覆盖和大致相同的诊断辨析率。扫描链选择方案的某些实施方式可以显著降低或者彻底消除在进入压缩器的测试响应中出现的未知状态。另外，在此公开了片上压缩器电路的实施方式，以及用于生成掩码选择电路的控制电路的方法的实施方式。 | ||
| 搜索关键词： | 多级 测试 响应 压缩器 | ||
【主权项】：
一种测试被测试电路的方法，包括：在第一间隔期间，向被测试电路的输入提供测试图案数据；以及在第二间隔期间，向所述被测试电路的所述输入提供用于对电路进行掩码的掩码指令。
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