[发明专利]多级测试响应压缩器

权利要求书

1.一种测试被测试电路的方法，包括：

在第一间隔期间，向被测试电路的输入提供测试图案数据；以及

在第二间隔期间，向所述被测试电路的所述输入提供用于对电路进行掩码的掩码指令。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一间隔先于所述第二间隔。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二间隔先于所述第一间隔。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一间隔包括第三间隔和第四间隔，并且所述第二间隔包括第五间隔和第六间隔，并且其中所述第三和第四间隔在所述第五和第六间隔之间散布。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：在从所述被测试电路载出根据所述测试图案数据生成的测试图案的测试响应时，将所述掩码指令应用于掩码电路。

6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：在从所述被测试电路载出根据其他测试图案数据生成的测试图案的测试响应时，将所述掩码指令应用于掩码电路。

7.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：根据所述掩码指令来对一个或者多个测试响应位进行掩码。

8.一种电路，其被配置为执行权利要求1所述的方法。

9.一种生成用于选择电路的选择逻辑的方法，所述选择逻辑用以控制在测试响应压缩期间对未知状态进行掩码，所述方法包括：

生成可能被包含在接受多项式组中的候选多项式，所述候选多项式以及所述接受多项式描述所述选择逻辑的两个或者更多个输入与所述选择电路的相应输出的连接；

选择一个或者多个多项式测试组，所述测试组分别至少包括所述候选多项式和来自所述接受多项式组的一个或者多个多项式；

针对所述一个或者多个测试组来计算等级值；

至少部分基于所述等级值来选择所述候选多项式，以包括在所述接受多项式组中；以及

在一个或者多个计算机可读介质上存储包括所述候选多项式的接受多项式组。

10.根据权利要求9所述的方法，进一步包括：

生成所述选择逻辑的电路描述，所述选择逻辑实现来自所述接受多项式组的多项式；以及

在一个或者多个计算机可读介质上存储所述选择逻辑的所述电路描述。

11.根据权利要求9所述的方法，其中所述候选多项式是随机生成的。

12.根据权利要求9所述的方法，进一步包括：

确定所述候选多项式是否与所述接受多项式组中的一个或者多个所述多项式共享超过固定数目的项；以及

如果所述候选多项式确实与所述接受多项式组中的一个或者多个所述多项式共享超过所述固定数目的项，则生成新的候选多项式。

13.根据权利要求9所述的方法，其中所述计算所述等级值的动作进一步包括：对所述两个或者更多个多项式测试组的所述等级值进行平均，并且其中所述选择所述候选多项式的动作至少部分地基于所述平均等级值。

14.根据权利要求9所述的方法，进一步包括：针对多个附加候选多项式来重复所述生成、选择以及计算的动作。

15.根据权利要求14所述的方法，其中所述选择所述候选多项式以包括在所述接受多项式组中的动作进一步基于对所述候选多项式的所述平均等级值与所述附加候选多项式的相应平均等级值进行比较。

16.根据权利要求9所述的方法，其中所述计算两个或者更多个多项式组的所述等级值的动作包括：确定所述多项式的两个或者更多个多项式测试组的简化行阶梯形式。

17.一个或多个计算机可读介质，其存储用于使计算机执行权利要求9所述的方法的计算机可执行指令。

18.一种生成用于选择电路的掩码指令的方法，所述选择电路可以进行操作以在被测试电路的测试期间对测试响应位进行掩码，所述方法包括：

对应用于被测试电路的测试图案进行仿真以生成测试响应；

标识所述测试响应中的一个或者多个未知状态；

至少部分基于所述一个或者多个标识的未知状态，选择一个或者多个测试响应位以用于掩码；以及

在一个或者多个计算机可读介质上存储所述已选择的测试响应位的一个或者多个指示。