[发明专利]用于检测辐射的辐射检测器及方法无效

专利信息
申请号: 201080069395.0 申请日: 2010-09-30
公开(公告)号: CN103140943A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 金重奭;高秉薰;文范镇;尹桢起 申请(专利权)人: 迪迩科技
主分类号: H01L31/115 分类号: H01L31/115;G01T1/24
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李春晖;陈炜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 公开了一种能够提高图像分辨率并且改进复杂的制造过程的用于检测辐射的辐射检测器及方法。该辐射检测器包括:上电极层,该上电极层传输辐射;第一光电导层,该第一光电导层借助于辐射而呈现光电导性;电荷俘获层,该电荷俘获层使得由于第一光电导层处的光电导性而产生的电荷被俘获,并且该电荷俘获层作用为浮动电极;第二光电导层,该第二光电导层通过读取后光来呈现光电导性;下透明电极层,该下透明电极层被充以由电荷俘获层俘获的电荷;以及后光发射单元,该后光发射单元以像素为单位将后光通过下透明电极层施加到第二光电导层。其中,本发明包括数据处理单元,该数据处理单元根据后光的照射从下透明电极层读取对应于被俘获在电荷俘获层中的电荷的信号,并通过使用所读取的信号生成辐射图像。
搜索关键词: 用于 检测 辐射 检测器 方法
【主权项】:
一种用于检测辐射的装置,所述装置包括:上电极层,所述上电极层传输辐射;第一光电导层,所述第一光电导层在暴露于所述辐射时变得有光电导性,并从而在所述第一光电导层中生成电荷;电荷俘获层,所述电荷俘获层将在所述第一光电导层中生成的所述电荷俘获在所述电荷俘获层中并且所述电荷俘获层用作为浮动电极;第二光电导层,所述第二光电导层在暴露于后光时变得有光电导性,以用于读出辐射图像;下透明电极层,所述下透明电极层被充以被俘获在所述电荷俘获层中的所述电荷;以及后光发射单元,所述后光发射单元以像素为单位将所述后光经由所述下透明电极层施加到所述第二光电导层。
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