[发明专利]针对电致发光显示器的缺陷发射体检测无效
| 申请号： | 201080043704.7 | 申请日： | 2010-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN102549641A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 查尔斯·I·利维;F·A·利昂 | 申请（专利权）人： | 全球OLED科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/32 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 吕俊刚;刘久亮 |
| 地址： | 美国弗*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 检测具有多个子像素的电致发光(EL)显示器中的不起作用或有缺陷的EL发射体。切断流过子像素中的驱动晶体管的电流，利用电流源提供通过该子像素中的EL发射体的选择的测试电流，并测量该子像素中的读出晶体管的第二电极处的电压以提供表示选择的EL发射体的特性的状态信号。将该子像素的状态信号与相邻子像素的相应状态信号进行比较以确定该子像素中的EL发射体是否有缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 针对 电致发光 显示器 缺陷 发射 体检 | ||
【主权项】：
一种检测电致发光(EL)显示器中的缺陷EL发射体的方法，该方法包括：a)提供具有多个子像素的所述EL显示器，每个子像素包括驱动晶体管、读出晶体管和EL发射体，所述驱动晶体管具有与所述EL发射体的电极相连接并与所述读出晶体管的第一电极相连接的电极；b)选择子像素；c)切断流过选择的子像素中的所述驱动晶体管的电流；d)利用电流源，提供流过选择的子像素中的所述EL发射体的选择的测试电流；e)测量选择的子像素中的所述读出晶体管的第二电极处的电压，以提供表示选择的子像素中的所述EL发射体的特性的状态信号；以及f)将选择的子像素的所述状态信号与至少两个相邻子像素的相应状态信号进行比较，以确定选择的子像素中的所述EL发射体是否有缺陷。
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