[发明专利]针对电致发光显示器的缺陷发射体检测

说明书

相关申请的交叉引用

参见2007年6月22日提交的名称为“OLED DISPLAY WITH AGING AND EFFICIENCY COMPENSATION”的共同转让给Levey等人的共同待审美国专利申请No.11/766,823、2008年10月25日提交的名称为“ELECTROLUMINESCENT DISPLAY WITH INITIAL NONUNIFORMITY COMPENSATION”的共同转让给Levey等人的共同待审美国专利申请No.12/258,388、以及2008年10月29日提交的名称为“ELECTROLUMINESCENT DISPLAY WITH EFFICIENCY COMPENSATION”共同转让给Leon的共同待审美国专利申请No.12/260,103，这些专利申请的内容合并于此。

技术领域

本发明涉及电致发光显示器中的缺陷子像素的检测。

背景技术

作为计算、娱乐和通信用的信息显示器，平板显示器受到很大关注。例如，多年来已知电致发光(EL)发射体并且近来在批量生产的显示设备中使用。这样的显示器通常采用布置在显示基板上的多个子像素。各个子像素都包含EL发射体，并且在有源矩阵控制方案中，还包括用于驱动电流通过EL发射体的驱动晶体管。子像素通常按照各个子像素具有行和列地址的二维阵列设置，并且具有与子像素关联的数据值。单个的EL子像素还能够被用于照明应用和用户界面(user interface)应用。使用包括可涂敷无机发光二极管、量子点和有机发光二极管(OLED)的各种发射体技术，可以制造EL子像素。通常的EL子像素包括阳极、一个或更多个发光层、以及阴极。

但是，EL发射体受到可以使发射体有缺陷的故障的影响，造成所谓“暗点”或“死点”，“暗点”是在给定的驱动电流或电压下不发射与它们的相邻点相同量的光，“死点”大致不发射光。例如，发射体的阳极和阴极之间的短路可以提供绕过发光层的电流路径。进入发光层的潮气可以损坏或毁坏这些层的发光特性。在基板或驱动晶体管中的制造故障可以损坏或切断驱动晶体管和EL发射体之间的连接。对暗点或死点的检测在制造过程中的是重要的步骤，既避免了发送有缺陷的面板，又提供了补偿检测到的暗点或死点的机会，并且由于故障在显示器的使用寿命中显现，因此对暗点或死点的检测仍然非常重要。

多种方案都对由于有缺陷的发射体导致的图像改变进行补偿。例如，Chung等人的美国专利申请公报No.2007/0126460描述了在制造过程中检查面板以确定缺陷的位置并且将正常像素电连接到缺陷像素以进行补偿。但是，该方案既昂贵又费时。该方案需要将相邻的EL发射体激光焊接在一起，这使图像质量劣化。而且，该方案不能补偿由于在显示器的使用寿命中周期性地出现的潮气进入而导致的故障。

共同转让给Cok的美国专利申请公报No.2006/0164407教导了用于补偿缺陷子像素的多种方法。但是，该公开教导了测量各个子像素的光输出以确定哪些子像素是有缺陷的。除了在受到控制的制造条件以外，这很难做到。因此，仅可以由复制那些制造条件的特殊装备来补偿显示器的使用寿命中出现的故障。

Trujillo等人的美国专利No.7,474,115教导了使用红外相机来测量显示设备并且遭受了与Cok的公开相同的限制。

Fish等人的美国专利申请公报No.2006/0256048教导了在各个子像素中使用光电二极管来测量子像素的光输出并补偿发射体中的改变。但是，该方案需要非常复杂的子像素电路，减小了可用于发射光的面积并因此增加了功率且缩短了显示器的使用寿命，而且降低了可使用的显示器的制造量。

Neter的美国专利No.6,965,395教导在CCD或CMOS图像传感器中补偿缺陷像素的多种方式。但是，该方法依赖于对输入的感测数据进行筛选，并因此要求输入的数据不具有可以与缺陷混淆的高频率、高振幅边缘。但是，这样的边缘在显示应用中是常见的，并且这样的边缘例如可以在显示字处理程序的过程中出现在字符的边缘处或出现在电视节目上的画面底部的滚动信息的边缘处。

因此，一直存在着对用于在电致发光显示器的使用寿命期间检测缺陷像素的方法的需要，这种方法针对在显示器中的使用进行了优化并且不需要复杂的设备或显示器电子线路。

发明内容

根据本发明的方面，提供了一种检测电致发光(EL)显示器中的缺陷EL发射体的方法，该方法包括：