[发明专利]荧光检测方法、荧光检测装置以及程序无效
| 申请号： | 201080007694.1 | 申请日： | 2010-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN102317762A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 林弘能 | 申请（专利权）人： | 三井造船株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人： | 杨颖;张一军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及的荧光检测方法，包括：将以特定频率调制的激光照射到测量对象物的工序；接收测量对象物发出的荧光，输出脉冲形状的多个荧光信号的工序；设定与频率相对应的周期单位的基准时间的工序；根据基准时间，获得脉冲形状的各荧光信号输出为止的发生时间的工序；生成表示脉冲形状的荧光信号的发生频率和发生时间的关系的累积荧光信号的工序；与激光的调制相对应的信号作为参照信号，求出该参照信号和累积荧光信号的相位差的工序；利用相位差求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间的工序。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 检测 方法 装置 以及 程序 | ||
【主权项】：
一种荧光检测方法，接收测量对象物受到激光照射后发出的荧光，并对所接收的荧光的荧光信号进行信号处理，其特征在于，包括：将以特定频率调制的激光照射到测量对象物的工序；接收所述测量对象物发出的荧光，输出脉冲形状的多个荧光信号的工序；设定与所述频率相对应的周期单位的基准时间的工序；根据所述基准时间，获得所述脉冲形状的各荧光信号输出为止的发生时间的工序；生成表示所述脉冲形状的荧光信号的发生频率和所述发生时间的关系的累积荧光信号的工序；与所述激光的调制相对应的信号作为参照信号，求出该参照信号和所述累积荧光信号的相位差的工序；利用所述相位差求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间的工序。
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