[发明专利]荧光检测方法、荧光检测装置以及程序

权利要求书

1.一种荧光检测方法，接收测量对象物受到激光照射后发出的荧光，并对所接收的荧光的荧光信号进行信号处理，其特征在于，包括：

将以特定频率调制的激光照射到测量对象物的工序；

接收所述测量对象物发出的荧光，输出脉冲形状的多个荧光信号的工序；

设定与所述频率相对应的周期单位的基准时间的工序；

根据所述基准时间，获得所述脉冲形状的各荧光信号输出为止的发生时间的工序；

生成表示所述脉冲形状的荧光信号的发生频率和所述发生时间的关系的累积荧光信号的工序；

与所述激光的调制相对应的信号作为参照信号，求出该参照信号和所述累积荧光信号的相位差的工序；

利用所述相位差求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间的工序。

2.根据权利要求1所述的荧光检测方法，其特征在于：所述求出相位差的工序是，根据所述累积荧光信号和所述参照信号的相关值求出所述相位差。

3.根据权利要求1所述的荧光检测方法，其特征在于：所述求出相位差的工序是，用与调制所述激光的调制信号相同形状的信号选配所述累积荧光信号，由此求出相对于该调制信号的所述累积荧光信号的延迟时间，并根据该延迟时间求出所述相位差。

4.根据权利要求1至3任一项所述的荧光检测方法，其特征在于：与所述激光的调制相对应的信号通过接收所述激光的一部分而获得。

5.根据权利要求1至3任一项所述的荧光检测方法，其特征在于：与所述激光的调制相对应的信号是调制所述激光的调制信号。

6.一种荧光检测装置，接收测量对象物受到激光照射后发出的荧光，并对此时所得到的荧光信号进行信号处理，其特征在于，包括：

激光光源部，将以特定频率调制的激光照射到测量对象物；

受光部，接收所述测量对象物发出的荧光，输出脉冲形状的多个荧光信号；

处理部，利用通过将所述激光照射到测量对象物在所述受光部输出的荧光信号，求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间；其中，所述处理部包括：

基准时间设定部，设定与所述频率相对应的周期单位的基准时间；

脉冲发生时间获得部，根据所述基准时间，获得所述脉冲形状的各荧光信号输出为止的发生时间；

累积荧光信号生成部，生成表示所述脉冲形状的荧光信号的发生频率和所述脉冲发生时间的关系的累积荧光信号；

相位差获得部，将与所述激光的调制相对应的信号作为参照信号，求出该参照信号和所述累积荧光信号的相位差；

荧光弛豫时间获得部，利用在所述相位差获得部求出的相位差，求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间。

7.根据权利要求6所述的荧光检测装置，其特征在于：所述相位差获得部是根据所述累积荧光信号和所述参照信号的相关值求出所述相位差。

8.根据权利要求6所述的荧光检测装置，其特征在于：所述相位差获得部是，用与调制所述激光的调制信号相同形状的信号选配所述累积荧光信号，由此求出相对于该调制信号的所述累积荧光信号的延迟时间，并根据该延迟时间求出所述相位差。

9.一种程序，用来使计算机执行在以特定频率调制的激光照射到测量对象物时作为测量对象物的荧光的荧光信号所得到的多个脉冲形状的荧光信号的信号处理，其特征在于，使计算机执行如下步骤：

设定与所述频率相对应的周期单位的基准时间的步骤；

根据所述基准时间，获得所述脉冲形状的各荧光信号输出为止的发生时间的步骤；

生成表示所述脉冲形状的荧光信号的发生频率和所述脉冲发生时间的关系的累积荧光信号的步骤；

将与所述激光的调制相对应的信号作为参照信号，求出该参照信号和所述累积荧光信号的相位差的步骤；

利用所述相位差求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间的步骤。

10.根据权利要求9所述的程序，其特征在于：所述求出相位差的步骤是根据所述累积荧光信号和所述参照信号的相关值求出所述相位差。

11.根据权利要求9所述的程序，其特征在于：所述求出相位差的步骤是，用与调制所述激光的调制信号相同形状的信号选配所述累积荧光信号，由此求出相对于该调制信号的所述累积荧光信号的延迟时间，并根据该延迟时间求出所述相位差。